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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:配電箱大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。配電箱大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

配電箱大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。由于現(xiàn)場(chǎng)總線過長(zhǎng),導(dǎo)致總線上掛載電容增加,從而導(dǎo)致線路阻抗增加。在邊沿時(shí)間測(cè)試需要考慮電阻與電容匹配。模擬測(cè)試線路短,需要人為添加電容來模擬現(xiàn)場(chǎng)存在實(shí)際情況。在上表中典型值是根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)電容、電阻得出的常用值。CAN邊沿時(shí)間測(cè)試步驟示波器測(cè)試CAN波形用示波器采集CAN總線波形,設(shè)置幅值光標(biāo)為20%~80%,記錄上升沿的時(shí)間、下降沿時(shí)間;記錄多次數(shù)據(jù),確認(rèn)每次求得上升沿、下降沿時(shí)間都在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。CAN測(cè)試問題只使用示波器測(cè)量CAN邊沿時(shí)間,需要人為操作記錄多次時(shí)間。

配電箱大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

借助現(xiàn)場(chǎng)總線通信(HART、Profibus、FoundationFieldbus),這些裝置能提供被測(cè)儀器的quot;健康狀態(tài)quot;信息,這種狀態(tài)信息可由資產(chǎn)監(jiān)測(cè)器加以利用。這些資產(chǎn)監(jiān)測(cè)器(如ABB的80OXA擴(kuò)展自動(dòng)化系統(tǒng))可探測(cè)到有關(guān)儀器性能的下降,通知相應(yīng)的人員開展進(jìn)一步調(diào)查,并在適當(dāng)?shù)那闆r下提供補(bǔ)救措施。無論作為簡(jiǎn)單的顯示或報(bào)警信息執(zhí)行,或是作為完整控制系統(tǒng)的一部分,這些功能都可讓客戶主動(dòng)對(duì)資產(chǎn)使用情況進(jìn)行優(yōu)化,而非被動(dòng)對(duì)突發(fā)事件做出反應(yīng)。配電箱大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

配電箱大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)使用組合透鏡系統(tǒng)對(duì)物體成像,實(shí)現(xiàn)加電時(shí)液晶透鏡區(qū)域清晰,具有大視場(chǎng)、局部高分辨率的效果。本文通過實(shí)驗(yàn)測(cè)量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對(duì)于成像質(zhì)量的影響。研究方向:液晶透鏡成像系統(tǒng)測(cè)試目的:展示成像系統(tǒng)對(duì)于局部區(qū)域的清晰成像效果,測(cè)量不同位置、不同光圈下成像系統(tǒng)的MTF,其對(duì)于成像質(zhì)量的影響。測(cè)試設(shè)備:相機(jī)、鏡頭、函數(shù)發(fā)生器、功率放大器ATA-24組合透鏡系統(tǒng)放大器型號(hào):AigtekATA-242實(shí)驗(yàn)過程:1.實(shí)驗(yàn)室制備液晶透鏡,并通過干涉法獲取波前信息,得到zernike系數(shù),得到液晶透鏡的性能參數(shù),以選擇合適的驅(qū)動(dòng)電壓;組裝成像系統(tǒng),對(duì)不同區(qū)域的物體進(jìn)行成像實(shí)驗(yàn);使用ISO12233板對(duì)成像系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)焦測(cè)試,測(cè)試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。配電箱大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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