HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜多回路溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。電源管理仍然是這些數(shù)字子系統(tǒng)的主要關(guān)注點(diǎn)。考慮以下：對(duì)于寬電壓擺幅，高壓擺率配置，每通道的功率要求可以為2.5W或更高，32通道板僅需要80W的引腳電子器件。所有通道都在高壓模式（25V范圍）下工作的多板數(shù)字系統(tǒng)可能需要超過(guò)1200W的功率才能實(shí)現(xiàn)512通道系統(tǒng)。對(duì)于高通道數(shù)系統(tǒng)，數(shù)字子系統(tǒng)的總輸入功率更是超過(guò)2KW。如前文所述，今天的數(shù)字子系統(tǒng)架構(gòu)由引腳電子器件和數(shù)字ASIC或FPGA組成，如上所述，PE消耗了數(shù)字子系統(tǒng)功耗中很大一部分。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

寬頻電流傳感器如前面所述，是使用薄膜霍爾元件零磁通方式的AC/DC電流傳感器。核心的霍爾元件是采用我們公司自己開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的薄膜霍爾元件。通過(guò)采用與以往產(chǎn)品相比大幅度降低干擾的薄膜霍爾元件，實(shí)現(xiàn)了輸出率1V/A(是通常的10倍)和低干擾性。2顯示的就是以往產(chǎn)品的比較。對(duì)小型馬達(dá)等汽車(chē)電氣部件的控制電流mA波形，可以進(jìn)行更精細(xì)的觀測(cè)。另外，具有120MHz(-3dB)的寬頻，與示波器等波形觀測(cè)儀器連接使用，可以觀測(cè)到含有頻率成分的電流波形。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP柜多回路溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修MarvinTestSolutions與Rohde＆Schwarz合作開(kāi)發(fā)5GIC的ATE系統(tǒng)，也將參與這場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)之中。：TS-96e-5G外觀圖產(chǎn)品介紹硬件部分TS-96e-5GmmWe測(cè)試系統(tǒng)可提供高達(dá)5GHz的測(cè)試性能。該系統(tǒng)將實(shí)驗(yàn)室級(jí)RF性能直接集成到mmWe被測(cè)設(shè)備（DUT）中，用于mmWe設(shè)備的多網(wǎng)站生產(chǎn)測(cè)試或設(shè)備表征。此外，MTS還提供全套數(shù)字和參數(shù)測(cè)試以及SPI/I2C接口支持，以便在功能上控制/監(jiān)控被測(cè)設(shè)備。