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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。但在不當(dāng)?shù)膽?yīng)用中會(huì)導(dǎo)致電網(wǎng)的波形產(chǎn)生嚴(yán)重畸型,嚴(yán)重影響電網(wǎng)運(yùn)行的質(zhì)量。下面來(lái)看看電磁參量測(cè)量與儀表領(lǐng)域的主要技術(shù)。1)多功能:在數(shù)字采樣技術(shù)、嵌入式微處理器、大規(guī)模集成電路和傳感器發(fā)展的帶動(dòng)下,電磁測(cè)量?jī)x表正向著一機(jī)多用發(fā)展,嵌入式操作系統(tǒng)、多參數(shù)(包括可以轉(zhuǎn)換為電量的非電量)測(cè)量、瞬間信號(hào)動(dòng)態(tài)捕捉與實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、數(shù)據(jù)記錄與存儲(chǔ)等功能成為主要趨勢(shì)。2)系統(tǒng)化:無(wú)線、紅外、US485等接口技術(shù)的引入,使電磁測(cè)量?jī)x表可以隨時(shí)隨地接入計(jì)算機(jī)、總線、互聯(lián)網(wǎng)等各類(lèi)系統(tǒng),而作為系統(tǒng)終端進(jìn)行電量或非電量的采樣、測(cè)量、傳輸、、處理、存儲(chǔ)與顯示等。

配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

在使用數(shù)字示波器測(cè)量波形參數(shù)的時(shí)候,我們經(jīng)常會(huì)遇到“光標(biāo)測(cè)量”與“自動(dòng)測(cè)量”結(jié)果不一致的情況,到底該哪一個(gè)比較準(zhǔn)確?本文將為大家解開(kāi)這個(gè)困擾。示波器發(fā)展到現(xiàn)階段,已經(jīng)不僅僅是在調(diào)試中觀察波形,更重要的是能很好的測(cè)量一些參數(shù)幫助大家優(yōu)化設(shè)計(jì)方案。示波器的測(cè)量方法大致有三種:刻度測(cè)量;光標(biāo)測(cè)量;自動(dòng)測(cè)量??潭葴y(cè)量就是根據(jù)波形所占格數(shù)進(jìn)行估測(cè),估測(cè)的準(zhǔn)確度當(dāng)然是比較低的,只適合做定性。配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱(chēng)

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)端接測(cè)試點(diǎn)長(zhǎng)時(shí)間監(jiān)測(cè)異常ZDS4的時(shí)序軟件具備長(zhǎng)時(shí)間統(tǒng)計(jì)功能,下班后設(shè)置好示波器,對(duì)數(shù)據(jù)采集儀的SPI總線時(shí)序連續(xù)監(jiān)測(cè)一個(gè)晚上,天上班的時(shí)候,導(dǎo)出監(jiān)測(cè)結(jié)果,如所示,一個(gè)晚上總共進(jìn)行了72185次測(cè)量,其中有1347次是測(cè)量失敗的,導(dǎo)致異常的原因是SPI的數(shù)據(jù)建立時(shí)間不滿足后級(jí)芯片的時(shí)序要求。示波器自動(dòng)保存了這1347份失敗的測(cè)試報(bào)告,打開(kāi)第1345份測(cè)試報(bào)告,如所示,顯示了當(dāng)前建立時(shí)間為3.75ns(包含時(shí)序違規(guī)處截圖),不滿足后級(jí)芯片4ns建立時(shí)間的要求,而且歷史出現(xiàn)差的時(shí)序是3.5ns,時(shí)序是8.5ns,問(wèn)題得以。配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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