HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱溫升大電流發(fā)生器HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。為了描述物理層結(jié)構(gòu)的特征，還必須進(jìn)行頻域。S參數(shù)模型說(shuō)明了這些數(shù)字電路結(jié)構(gòu)所展示出來(lái)的模擬特點(diǎn)包括：不連續(xù)點(diǎn)反射、頻率相關(guān)損耗、串?dāng)_和EMI等性能。為使設(shè)備性能符合標(biāo)準(zhǔn)，眼圖增加了重要的統(tǒng)計(jì)功能。為利用特性檢定技術(shù)改善仿真能力，可以采用基于測(cè)試結(jié)果的S參數(shù)或RLCG模型提取技術(shù)。隨著在多種工作模式下進(jìn)行數(shù)字和模擬綜合（時(shí)域和頻域）變得越來(lái)越重要，要完成這些測(cè)試功能，通常需要使用多種測(cè)試儀表，同時(shí)操作多種儀表正變得越來(lái)越困難。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

渦流探傷儀無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是一種在不破壞受檢對(duì)象的前提下測(cè)定、評(píng)價(jià)物體內(nèi)部或表層物理和機(jī)械性能及各類(lèi)缺陷和其他技術(shù)參數(shù)的綜合性檢測(cè)技術(shù)。其應(yīng)用范圍隨著科學(xué)與生產(chǎn)的發(fā)展日趨廣泛。在汽車(chē)制造行業(yè)中渦流探傷儀無(wú)損檢測(cè)的應(yīng)用十分廣泛。許多汽車(chē)零部件，如制動(dòng)鼓、制動(dòng)盤(pán)、軸頸、轉(zhuǎn)向節(jié)等關(guān)鍵的**件，如果零部件表面出現(xiàn)細(xì)微裂紋，或者內(nèi)部有缺陷，在長(zhǎng)期交變應(yīng)力的作用下，裂紋會(huì)從外表逐漸向內(nèi)發(fā)展，或者由內(nèi)向外延伸，進(jìn)而產(chǎn)生**隱患。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱溫升大電流發(fā)生器HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 5年保修在帶寬500MHz以下的示波器，一般標(biāo)配是1倍衰減或10倍衰減的無(wú)源，某些的衰減比可手動(dòng)選擇。不同衰減比的在帶寬、輸入電阻、輸入電容上面都有差異：圖2ZP1025SA1倍、10倍衰減時(shí)的參數(shù)差異可見(jiàn)的輸入電容，比晶體手冊(cè)的負(fù)載電容要大。的介入，必定大大影響到原已參數(shù)優(yōu)化好的電路，從而嚴(yán)重影響晶體電路的起振。兩害相權(quán)取其輕，測(cè)量無(wú)源晶振時(shí)應(yīng)優(yōu)先選用10倍衰減。若10倍衰減的寄生參數(shù)還是過(guò)大，可以考慮選用有源高壓差分，其負(fù)載參數(shù)優(yōu)化得非常小，如Lecroy的ZP1000，輸入阻抗可達(dá)0.9p1M歐姆。