HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 配電箱溫升試驗裝置HNDL 大電流試驗裝置 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)柜進行試驗的要求。推理機只負責診斷推理，測試則由測試系統(tǒng)完成。與傳統(tǒng)的診斷和測試融合在一起不同，診斷模塊（IEEE1232推理機）在不同測試系統(tǒng)間是可互換的。在故障樹時，依照IEEE1232標準生成可交換的診斷信息文件，診斷知識將在不同測試系統(tǒng)間共享。通過嚴格按標準實施推理機的通信接口，就可以實現(xiàn)診斷模塊的移植，達到測試與診斷的分離。參考IEEE1232標準,TestCenter開發(fā)了故障診斷子系統(tǒng)，如所示，TestCenter故障診斷由三部分組成：診斷模型制作器、診斷推理機和診斷程序。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關(guān)柜及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

可控硅檢測方案電控系統(tǒng)長時間運行后，電發(fā)動機會出現(xiàn)跳閘等故障。基于此，對可控硅性能好壞進行檢測，對于系統(tǒng)的日常維護、保證正常運轉(zhuǎn)具有十分重要的意義。通常對電氣設(shè)備的檢測設(shè)備及方法有萬用表、漏電儀、搖表，另外，還可以利用示波器觀測導通電流以判斷可控硅導通情況。在實際生產(chǎn)中，僅采用萬用表無法判斷可控硅的故障。下面對幾種檢測方法進行對比，以得出可控硅檢測的方法。漏電儀檢測法（耐壓試驗）采用大電流發(fā)生器（簡稱升流器）對可控硅K兩極之間進行漏電試驗。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱溫升試驗裝置HNDL 大電流試驗裝置 容量大 5年保修系統(tǒng)設(shè)計人員正面臨越來越多的挑戰(zhàn)，他們需要在不降低系統(tǒng)組件(：高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器)性能的情況下讓其設(shè)計程度地節(jié)能。設(shè)計人員們可能會轉(zhuǎn)而采用許多電池供電的應(yīng)用(：某種手持終端、軟件無線設(shè)備或便攜式超聲波掃描儀)，也可能會縮小產(chǎn)品的外形尺寸，從而需要尋求減少發(fā)熱的諸多方法。降低系統(tǒng)功耗的一種方法是對高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的電源進行優(yōu)化。數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器設(shè)計和工藝技術(shù)的一些進展，讓許多新型ADC可以直接由開關(guān)電源來驅(qū)動，從而達到化功效的目的。