HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱多回路溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定制定做 

聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。吉爾德定律的提出者是被稱為“數(shù)字時(shí)代三大思想家”之一的喬治吉爾德，他認(rèn)為正如20世紀(jì)70年代昂貴的晶體管，在現(xiàn)如今變得如此便宜一樣，主干網(wǎng)如今還是稀缺資源的網(wǎng)絡(luò)帶寬，有朝一日會(huì)變得足夠充裕，那時(shí)上網(wǎng)的代價(jià)也會(huì)大幅下降。隨著帶寬的增加，將會(huì)有更多的設(shè)備以有線或無(wú)線的方式上網(wǎng)，這些設(shè)備本身并沒(méi)有什么智能，但大量這樣的“”設(shè)備通過(guò)網(wǎng)絡(luò)連接在一起時(shí)，其威力將會(huì)變得很大，就像利用便宜的晶體管可以制造出價(jià)格昂貴的電腦一樣，只要將廉價(jià)的網(wǎng)絡(luò)帶寬資源充分利用起來(lái)，也會(huì)給人們帶來(lái)巨額的回報(bào)，未來(lái)的成功人士將是那些更善于利用帶寬資源的人。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

對(duì)于非線性負(fù)載，需要使用功率儀測(cè)試其諧波電流是否超出相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限值。致遠(yuǎn)PA全系列功率儀支持通用的IEC61000-4-7諧波測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)；而對(duì)于電能質(zhì)量要求較高的精密設(shè)備，需要對(duì)其供電電源的抗諧波干擾能力進(jìn)行測(cè)試。其中PA8000認(rèn)證級(jí)功率儀強(qiáng)大FFT測(cè)量功能可以每一次頻點(diǎn)的能量，分辨率為0.1Hz，通過(guò)此功能可以查看每次間諧波的數(shù)據(jù)。在實(shí)際測(cè)試中，需要測(cè)試電源輸入端的間諧波指標(biāo)，目前業(yè)界只有PA8000認(rèn)證級(jí)功率儀和PA6000PA5000H支持此功能。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱多回路溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定制定做ENOB=（SINAD-1.76dB）/6.2，其中1.76為理想ADC的量化噪聲，6.2為將log2轉(zhuǎn)化為log1的系數(shù)比。很明顯，SINAD越大，ENOB越大，而提升SINAD的方法就是重點(diǎn)關(guān)注與測(cè)試精度有關(guān)的電路。在數(shù)字示波器的架構(gòu)中，與測(cè)試精度有關(guān)的電路有：前端采集電路、ADC采樣電路。被測(cè)信號(hào)經(jīng)前端采集電路進(jìn)行調(diào)理后傳輸給ADC進(jìn)行采樣。其中前端采集電路及ADC采樣電路對(duì)ENOB有較大影響，實(shí)際工作時(shí)，偏置誤差，非線性誤差，增益誤差，隨機(jī)噪聲，甚至還有ADC交織引起的噪聲都會(huì)增大ENOB。ENOB說(shuō)明了什么ENOB是衡量ADC性能的標(biāo)尺，若示波器ENOB指標(biāo)好，那么偏置誤差、增益誤差、非線性度等都較小，同時(shí)帶寬噪聲也較低。如果主要被測(cè)信號(hào)是正弦波信號(hào)，那么ENOB就需要重點(diǎn)關(guān)注。通常示波器都由前端電路衰減器、放大器等信號(hào)調(diào)理電路、ADC采樣電路組成，在設(shè)計(jì)的時(shí)候，會(huì)在前端采用射頻技術(shù)，頻率響應(yīng)方式，實(shí)現(xiàn)的頻響平坦度，以便ADC采樣時(shí)失真，增大ENOB指標(biāo)。如何判斷ENOB的大小3.11.底噪示波器在不同垂直檔位及偏置下的底噪大小是評(píng)估示波器測(cè)量質(zhì)量的一個(gè)重要依據(jù)，通過(guò)觀測(cè)底噪大小，可以判斷前端采集電路和ADC采樣電路設(shè)計(jì)的優(yōu)劣，因?yàn)槭静ㄆ鞯牡自霑?huì)增加額外的抖動(dòng)并較小設(shè)計(jì)裕量，對(duì)測(cè)試結(jié)果造成較大的影響。