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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。三回路配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

三回路配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。隨著電子技術(shù)的發(fā)展,器件的噪聲系數(shù)越來越低,放大器的動(dòng)態(tài)范圍也越來越大,增益也大有提高,使得電路系統(tǒng)的靈敏度和選擇性以及線性度等主要技術(shù)指標(biāo)都得到較好的解決。同時(shí),隨著技術(shù)的不斷提高,對(duì)電路系統(tǒng)又提出了更高的要求,這就要求電路系統(tǒng)必須具有較低的相位噪聲,在現(xiàn)代技術(shù)中,相位噪聲已成為限制電路系統(tǒng)的主要因素。低相位噪聲對(duì)于提高電路系統(tǒng)性能起到重要作用。相位噪聲好壞對(duì)通訊系統(tǒng)有很大影響,尤其現(xiàn)代通訊系統(tǒng)中狀態(tài)很多,頻道又很密集,并且不斷的變換,所以對(duì)相位噪聲的要求也愈來愈高。

三回路配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

其中,n為大于1的自然數(shù),an代表第n個(gè)補(bǔ)償周期獲取的補(bǔ)償參數(shù),mn-1代表第n-1個(gè)補(bǔ)償周期存儲(chǔ)的補(bǔ)償余數(shù),nn代表RTC模塊的補(bǔ)償單位,b代表RTC模塊的補(bǔ)償單位的整數(shù)倍,mn代表第n個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償余數(shù)。在第n個(gè)補(bǔ)償周期中,所述根據(jù)所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值和所述補(bǔ)償余數(shù)對(duì)RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn),具體包括:按照所述第n個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償校準(zhǔn)值對(duì)所述RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn),并存儲(chǔ)所述第n個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償余數(shù)。三回路配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修目前,大多數(shù)蜂窩采用時(shí)分多址(TDMA)標(biāo)準(zhǔn),這種復(fù)用技術(shù)以217Hz的頻率對(duì)高頻載波進(jìn)行通/斷脈沖調(diào)制。容易受到RF干擾的IC會(huì)對(duì)該載波信號(hào)進(jìn)行解調(diào),再生出217Hz及其諧波成分的信號(hào)。由于這些頻譜成分的絕大多數(shù)都落入音頻范圍,因此它們會(huì)產(chǎn)生令人生厭的“嗡嗡”聲。由此可見,RF抗干擾能力較差的電路會(huì)對(duì)蜂窩的RF信號(hào)解調(diào),并會(huì)產(chǎn)生不希望聽到的低頻噪音。作為質(zhì)量保證的測(cè)試手段,測(cè)量時(shí)需要將電路置于RF環(huán)境中,該環(huán)境要與正常操作時(shí)電路的工作環(huán)境相當(dāng)。三回路配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修


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