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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP柜多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。JP柜多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

JP柜多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。光纖接續(xù)光纖接續(xù)。光纖接續(xù)應(yīng)遵循的原則是:芯數(shù)相等時(shí),要同束管內(nèi)的對(duì)應(yīng)色光纖對(duì)接,芯數(shù)不同時(shí),按順序先接芯數(shù)大的,再接芯數(shù)小的。光纖接續(xù)的方法有:熔接、活動(dòng)連接、機(jī)械連接三種。在工程中大都采用熔接法。采用這種熔接方法的接點(diǎn)損耗小,反射損耗大,可靠性高。光纖接續(xù)的過程和步驟:開剝光纜,并將光纜固定到接續(xù)盒內(nèi)。注意不要傷到束管,開剝長(zhǎng)度取1m左右,用衛(wèi)生紙將油膏擦拭干凈,將光纜穿入接續(xù)盒,固定鋼絲時(shí)一定要壓緊,不能有松動(dòng)。

JP柜多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

原子吸收光譜法,是基于氣態(tài)的基態(tài)原子外層電子對(duì)紫外光和可見光范圍的相對(duì)應(yīng)原子共振輻射線的吸收強(qiáng)度來定量被測(cè)元素含量為基礎(chǔ)的方法,是一種測(cè)量特定氣態(tài)原子對(duì)光輻射的吸收的方法。此法是20世紀(jì)50年代中期出現(xiàn)并在以后逐漸發(fā)展起來的一種新型的儀器方法,它在地質(zhì)、冶金、機(jī)械、化工、農(nóng)業(yè)、食品、輕工、生物醫(yī)藥、環(huán)境保護(hù)、材料科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。該法主要適用樣品中微量及痕量組分。每一種元素的原子不僅可以發(fā)射一系列特征譜線,也可以吸收與發(fā)射線波長(zhǎng)相同的特征譜線。JP柜多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP柜多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修不需要“先進(jìn)”數(shù)字測(cè)試性能;但對(duì)于測(cè)試靈活性和功能的需求較大的情況,高速數(shù)字模塊則尤其重要。測(cè)試系統(tǒng)和相關(guān)的數(shù)字子系統(tǒng)可以支持傳統(tǒng)和當(dāng)代電子組件組合的測(cè)試,因?yàn)檫@種測(cè)試系統(tǒng)被廣泛用于現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)產(chǎn)品以及在工廠中測(cè)試新代產(chǎn)品。更具體地說,現(xiàn)場(chǎng)部署的測(cè)試系統(tǒng)(中所示的VIPER/T)具有尺寸和功耗的附加限制—要求系統(tǒng)具有便攜式,并且具有高可靠性。:VIPER/T測(cè)試系統(tǒng)數(shù)字子系統(tǒng)相關(guān)的功能包括:支持至少50MHz的矢量速率,每個(gè)引腳的時(shí)序,多個(gè)時(shí)間集和靈活的定序器。JP柜多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修


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