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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP柜溫升試驗裝置HNDL 全自動溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負載試驗及溫升試驗。JP柜溫升試驗裝置HNDL 全自動溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) JP柜溫升試驗裝置HNDL 全自動溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗 

JP柜溫升試驗裝置HNDL 全自動溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)柜進行試驗的要求?;?672系列矢量網(wǎng)絡(luò)儀的放大器增益壓縮測量應(yīng)用僅需一次設(shè)置,一次連接,一次校準就可以得到放大器在頻域的所有增益壓縮參數(shù)(包括壓縮點的輸入功率,壓縮點的輸出功率,壓縮點的增益等)和線性參數(shù)(包括線性增益,輸入匹配,輸出匹配等)。我們具有:快速準確的智能掃描;一目了然的向?qū)?;方便快捷的USB電子校準,USB功率校準;二維掃描(頻率點掃功率和功率點掃頻率)一次完成;多種壓縮方法——從線性/增益壓縮、從飽和態(tài)壓縮、回退法和X/Y法。

JP柜溫升試驗裝置HNDL 全自動溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關(guān)柜及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求)

輸出波形:標準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù):三相  多路

熱像儀每秒記錄一次溫度。數(shù)據(jù)圖形是圖像中所有像素的平均值。數(shù)據(jù)直方圖雖然顯示得更清楚,但大部分的數(shù)據(jù)點都位于36.8?C至37?C之間。記錄的寬溫度范圍是從36.6?C至37.2?C。我們來看下這個數(shù)據(jù),所有像素平均值的預(yù)期精度可能達到0.5?C。有些人可能甚至?xí)暦QFLIRA325sc等使用相同探測器的其他熱像儀的精度為±1?C。不過,也有些人可能會辯稱,上面圖形顯示的是所有像素的平均值,可能并不能代表個別的像素。JP柜溫升試驗裝置HNDL 全自動溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP柜溫升試驗裝置HNDL 全自動溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗多功能數(shù)據(jù)采集板分辨率一般為12位和16位,量化誤差僅占整個測量誤差的很小一部分,其它還包括非線性誤差、系統(tǒng)噪聲和溫度漂移誤差,這些都可能對結(jié)果造成很大影響,具體要看板的設(shè)計和應(yīng)用條件。非線性誤差和量化有關(guān)。如上所述,量化誤差與數(shù)據(jù)采集板有效范圍除以代表測量值的二進制數(shù)可能狀態(tài)數(shù)的結(jié)果成正比,等于相鄰測量值間隔的一半。在實際設(shè)備中,群特儀表離散的各值之間距離并不總是相同的,這種現(xiàn)象造成了非線性誤差。JP柜溫升試驗裝置HNDL 全自動溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗


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