HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿(mǎn)足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。主器件為時(shí)鐘提供者，可發(fā)起讀從器件或?qū)憦钠骷僮?。這時(shí)主器件將與一個(gè)從器件進(jìn)行對(duì)話(huà)。當(dāng)總線(xiàn)上存在多個(gè)從器件時(shí)，要發(fā)起一次傳輸，主器件將把該從器件選擇線(xiàn)拉低，然后分別通過(guò)MOSI和MISO線(xiàn)啟動(dòng)數(shù)據(jù)發(fā)送或接收。SPI時(shí)鐘速度很快，范圍可從幾兆赫茲到幾十兆赫茲，且沒(méi)有系統(tǒng)開(kāi)銷(xiāo)。SPI在系統(tǒng)管理方面的缺點(diǎn)是缺乏流控機(jī)制，無(wú)論主器件還是從器件均不對(duì)消息進(jìn)行確認(rèn)，主器件無(wú)法知道從器件是否繁忙。必須設(shè)計(jì)聰明的軟件機(jī)制來(lái)處理確認(rèn)問(wèn)題。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿(mǎn)足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

在被檢測(cè)氣體溫度較低（0℃～650℃），或被測(cè)氣體較清潔時(shí)，適宜采樣式檢測(cè)方式，如制氮機(jī)測(cè)氧，實(shí)驗(yàn)室測(cè)氧等。直插檢測(cè)式氧直插式檢測(cè)是將氧化鋯直接插入高溫被測(cè)氣體，直接檢測(cè)氣體中的氧含量，這種檢測(cè)方式適宜被檢測(cè)氣體溫度在700℃～1150℃時(shí)（結(jié)構(gòu)還可以用于1400℃的高溫），它利用被測(cè)氣體的高溫使氧化鋯達(dá)到工作溫度，不需另外用加熱器。直插式氧的技術(shù)關(guān)鍵是陶瓷材料的高溫密封和電極問(wèn)題。由于需要將氧化鋯直接插入檢測(cè)氣體中，對(duì)氧的長(zhǎng)度有較高要求，其有效長(zhǎng)度在500mm～1000mm左右，的環(huán)境長(zhǎng)度可達(dá)1500mm。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶(hù)具體需求配置）

配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修望遠(yuǎn)鏡配置包含了八個(gè)子望遠(yuǎn)鏡陣列和光束組合望遠(yuǎn)鏡位于陣列的，用來(lái)采集來(lái)自子望遠(yuǎn)鏡的光線(xiàn)，并且可以在聚焦平面上產(chǎn)生干涉圖像。光學(xué)延遲線(xiàn)可以均衡來(lái)自每個(gè)子望遠(yuǎn)鏡不同波前進(jìn)入路徑的差別，后到達(dá)覆蓋在上面的聚焦平面。干涉邊緣圖案樣式在聚焦平面上形成，并且具有良好的可見(jiàn)度，在干涉儀臂之間的光學(xué)路徑差（OPD）被保持在比相干長(zhǎng)度小的范圍之內(nèi)。隨著OPD的增加，邊緣圖案變得越來(lái)越黯淡，即其可見(jiàn)度越來(lái)越低。這是因?yàn)楦缮鎯x并非工作在單一的波長(zhǎng)上，而是工作在有限的頻帶上。