HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。不同的體系對精度的要求不一樣。單體電池OCV曲線及其電壓采集精度要求對于LMO/LTO電池，單體電壓采集精度只需達(dá)到10mV。對于LiFePO4/C電池，單體電壓采集精度需要達(dá)到1mV左右。但目前單體電池的電壓采集精度多數(shù)只能達(dá)到5mV。1.2采樣頻率與同步電池系統(tǒng)信號有多種，而電池管理系統(tǒng)一般為分布式，信號采集過程中，不同控制子板信號會存在同步問題，會對實(shí)時(shí)監(jiān)測算法產(chǎn)生影響。設(shè)計(jì)BMS時(shí)，需要對信號的采樣頻率和同步精度提出相應(yīng)的要求。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

當(dāng)兩個(gè)重載輸出時(shí)，電流在整個(gè)1-D周期持續(xù)流動，輸出電壓平衡良好。然而，當(dāng)一個(gè)重載輸出和另一個(gè)輕載輸出時(shí)，輕載輸出上的輸出電容傾向于從該基座電壓發(fā)生峰值充電；因?yàn)殡娏餮杆倩厣搅悖漭敵龆O管將停止導(dǎo)通，。請參見中的波形。這些寄生電感的峰值充電交叉調(diào)節(jié)影響通常比整流器正向壓降單引起的要差得多。當(dāng)對兩個(gè)輸出施加重載時(shí)，在整個(gè)1-D周期內(nèi)，次級繞組電流在兩個(gè)次級繞組中流動。您可以看到上方紅色跡線上的基座電壓。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)但是亮斑處不是引起報(bào)警的源頭，因?yàn)樘絺麑ζ龅男盘栱憫?yīng)很弱。進(jìn)一步磨拋進(jìn)行500倍高倍解剖部位，將高倍放大到500倍，發(fā)現(xiàn)亮斑中心處有微小缺陷，見下圖。圖500倍顯微組織發(fā)現(xiàn)微小裂紋。我們認(rèn)為該缺陷才是引起探傷儀器報(bào)警的信號源。該缺陷粗略應(yīng)該是氣孔，由于在后續(xù)的鍛造、精緞加工過程中形變成線狀缺陷。但是后定性必須以電鏡和能譜作為參考依據(jù)。當(dāng)量大小，由下公式換算：平底孔和長橫孔換算：從上面公式可以看出，當(dāng)檢測φ1.2平底孔換算成橫截面同當(dāng)量的長橫孔為0.08mm當(dāng)量。