HN2016智能sf6微水測(cè)試儀微水測(cè)試儀 SF6氣體回收裝置 sf6氣體檢漏儀 5年保修

露點(diǎn)	測(cè)量范圍	－80 ℃～+20 ℃
	測(cè)量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測(cè)量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

對(duì)于通信系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，諧波失真信號(hào)表現(xiàn)為通信頻帶中的干擾信號(hào)，容易導(dǎo)致系統(tǒng)的信噪比下降，嚴(yán)重影響通信系統(tǒng)的容量和質(zhì)量，因此快速的測(cè)量諧波失真顯得非常重要。諧波失真產(chǎn)物屬于一種可預(yù)見(jiàn)性的失真，它們直接與輸入信號(hào)的頻率相關(guān)。在實(shí)際測(cè)量中，通常使用頻譜儀來(lái)測(cè)量信號(hào)的總諧波失真（TotalHarmonicDistortion，簡(jiǎn)稱(chēng)THD），并以此作為諧波失真程度的評(píng)估依據(jù)。方法一：利用掃頻功能手動(dòng)測(cè)量利用頻譜儀測(cè)量信號(hào)的諧波失真時(shí)，在測(cè)量過(guò)程中經(jīng)過(guò)多次手動(dòng)調(diào)節(jié)信號(hào)的頻率、分辨率帶寬、掃描時(shí)間、頻寬等儀器測(cè)量參數(shù)，并利用標(biāo)記讀出各次諧波的幅度值，然后根據(jù)諧波失真計(jì)算公式手動(dòng)計(jì)算總諧波失真值。1、連接SF₆設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開(kāi)始測(cè)量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其后每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。單路測(cè)徑儀是以光電原理進(jìn)行外徑檢測(cè)的設(shè)備，單組測(cè)頭測(cè)量一個(gè)方向上的外徑尺寸，同時(shí)測(cè)頭可進(jìn)行360°旋轉(zhuǎn)，測(cè)量線(xiàn)棒材的外徑尺寸，并對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。旋轉(zhuǎn)式單路測(cè)徑儀的使用很大程度上解決了橢圓度等的測(cè)量問(wèn)題。單路測(cè)徑儀系統(tǒng)是集光學(xué)、機(jī)械、電子電路、通訊和計(jì)算機(jī)軟件技術(shù)為一身的成套設(shè)備。該套設(shè)備主要由測(cè)徑儀、控制柜、工控機(jī)、顯示器、聲光報(bào)警器、通訊單元等組成。單路測(cè)徑儀的測(cè)頭分為發(fā)射鏡頭和接收鏡頭，為保證360°范圍測(cè)量，本方案將測(cè)頭安裝在一個(gè)主盤(pán)體上。

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

世界半導(dǎo)體工業(yè)界，這種進(jìn)步至少仍將持續(xù)10到15年。面對(duì)現(xiàn)有的晶體管模式及技術(shù)已經(jīng)臨近極限，借助芯片設(shè)計(jì)人員巨大的創(chuàng)造才能，使一個(gè)個(gè)看似不可逾越的難關(guān)化險(xiǎn)為夷，硅晶體管繼續(xù)著小型化的步伐。近期美國(guó)科學(xué)家的科技成果顯示，將10納米長(zhǎng)的圖案壓印在硅片上的時(shí)間為四百萬(wàn)分之一秒，把硅片上晶體管的密度提高了100倍，同時(shí)也大大提高了線(xiàn)生產(chǎn)的速度。這一成果將使電子產(chǎn)品繼續(xù)微小化，使摩爾定律繼續(xù)適用。

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè)，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。充電準(zhǔn)備就緒測(cè)試：檢查供電設(shè)備是否能檢測(cè)到車(chē)輛準(zhǔn)備就緒并啟動(dòng)充電。啟動(dòng)及充電階段測(cè)試：在充電過(guò)程中，檢查供電設(shè)備是否能通過(guò)PWM信號(hào)占空比告知其可供電能力。正常充電結(jié)束測(cè)試：檢查供電設(shè)備在收到車(chē)輛停止充電指令時(shí)充電結(jié)束過(guò)程是否正常。充電連接控制時(shí)序測(cè)試本測(cè)試的目的是檢查供電設(shè)備充電連接控制狀態(tài)跳轉(zhuǎn)和時(shí)間間隔是否滿(mǎn)足要求。狀態(tài)轉(zhuǎn)換示意圖如下圖所示，充電時(shí)供電設(shè)備充電連接時(shí)序應(yīng)滿(mǎn)足GB/T18487.1-2015中A.4和A.5規(guī)定的要求。

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 如果用戶(hù)用IT64連接用電產(chǎn)品，使用電池模擬功能來(lái)模擬電池供電環(huán)境下的產(chǎn)品功耗，就可以將電池特性參數(shù)編輯為逐步下降的放電參數(shù)。IT64將根據(jù)表格參數(shù)自動(dòng)擬合出一條平滑的放電曲線(xiàn)，減小用戶(hù)編輯參數(shù)的工作量，提真能力。.CSV文件示意用戶(hù)也可以利用IT64系列的電池放電功能，對(duì)設(shè)備原配電池進(jìn)行放電測(cè)試，通過(guò)上位機(jī)軟件采集到電池在放電中的電壓、放電容量等參數(shù)，得到放電特性曲線(xiàn)。使用艾德克斯IT511內(nèi)阻測(cè)試儀測(cè)得電池的內(nèi)阻值，來(lái)獲取IT64需要的電池模擬參數(shù)，以支持智能設(shè)備的研發(fā)測(cè)試。