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產品詳情
  • 產品名稱:冷鏡式露點儀 密度繼電器校驗儀 sf6冷鏡法露點測試儀 定制定做

  • 產品型號:HNDL
  • 產品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。冷鏡式露點儀 密度繼電器校驗儀 sf6冷鏡法露點測試儀 定制定做
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點儀 密度繼電器校驗儀 sf6冷鏡法露點測試儀 定制定做
冷鏡式露點儀 密度繼電器校驗儀 sf6冷鏡法露點測試儀 定制定做

露點

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

在考慮上述問題之后就能確定選用何種類型的傳感器,然后再考慮傳感器的具體性能指標。頻率響應特性五金傳感器的頻率響應特性決定了被測量的頻率范圍,必須在允許頻率范圍內保持不失真的測量條件,實際上傳感器的響應總有—定延遲,希望延遲時間越短越好。傳感器的頻率響應高,可測的信號頻率范圍就寬,而由于受到結構特性的影響,機械?系統的慣性較大,因有頻率低的傳感器可測信號的頻率較低。在動態(tài)測量中,應根據信號的特點(穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)、隨機等)響應特性,以免產生過火的誤差靈敏度的選擇通常,在傳感器的線性范圍內,希望傳感器的靈敏度越高越好。冷鏡式露點儀 密度繼電器校驗儀 sf6冷鏡法露點測試儀 定制定做1、連接SF6設備

將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好,用扳手擰緊,關閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好,用扳手擰緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關機充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調節(jié)流量,把流量調節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。

設備測量時間需要510分鐘,其后每臺設備需要35分鐘。

4、存儲數據

設備測量完成后,可以將數據保存在儀器中,按“確定”鍵調出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內容。點測溫與區(qū)域測溫測量一個區(qū)域內的溫度,而非逐個點、逐個點的進行測溫,可以幫助研究人員和工程師對其正在測試的系統做出更好的知情決策。由于熱電偶和熱敏電阻都需要通過接觸才能進行測溫,因此它們只能一次提供一個位置的溫度數據。而且,小的測試目標一次只能安裝少數熱電偶。貼在其上,實際上熱電偶會散熱,而可能改變溫度讀數。傳統熱電偶的熱圖像非接觸式的測溫可能采用點溫儀(也稱為紅外測溫儀),但如同熱電偶一樣,點溫儀只能測量單點的溫度。冷鏡式露點儀 密度繼電器校驗儀 sf6冷鏡法露點測試儀 定制定做

5、測量其他設備

一臺設備測量后,關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節(jié)閥。將轉接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設備。

6、測量結束

所有設備測量結束后,關閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1。

4151調制域儀具有的時間間隔測量功能及應用演示如下:正時間間隔測量。4151調制域儀提供的正時間間隔測量功能,既可以實現單通道的連續(xù)周期測試,也可以實現雙通道之間的相對時間間隔測試,雙通道時間間隔測量需設置相對關系,AB或BA的正時間間隔測量。4151調制域儀正時間間隔的測量范圍為4ns~8s,時間測量分辨率為5ps。正時間間隔測量演示上圖是用Tek公司的任意波形發(fā)生模擬了雷達發(fā)射與接收脈沖信號的正時間間隔測試結果,B通道輸入脈沖信號的周期為1us,相對延遲時間為ns。冷鏡式露點儀 密度繼電器校驗儀 sf6冷鏡法露點測試儀 定制定做

1、保存數據

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數據頁面,保存數據時,可以根據設備進行編號。

設備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小,“左”、“右”鍵調整數據位數。

輸入編號后,按“確定”鍵,完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數據。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁面。

顯示時從后一個被保存的數據開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數據。世界半導體工業(yè)界,這種進步至少仍將持續(xù)10到15年。面對現有的晶體管模式及技術已經臨近極限,借助芯片設計人員巨大的創(chuàng)造才能,使一個個看似不可逾越的難關化險為夷,硅晶體管繼續(xù)著小型化的步伐。近期美國科學家的科技成果顯示,將10納米長的圖案壓印在硅片上的時間為四百萬分之一秒,把硅片上晶體管的密度提高了100倍,同時也大大提高了線生產的速度。這一成果將使電子產品繼續(xù)微小化,使摩爾定律繼續(xù)適用。冷鏡式露點儀 密度繼電器校驗儀 sf6冷鏡法露點測試儀 定制定做

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數據。

4、修改時間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值,“左”、“右”鍵可以減小時間數值。

輸入小時、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。

 每個示波器都有其輸入阻抗,這個阻抗是特性阻抗,不僅僅是電阻,還包含了電容和電感等。由于引入的額外負載,所以接入被測電路后,會從信號中汲取能量,實際上就會影響被測電路,惡劣的后果就是電路本來是正常工作的,引入示波器后卻不正常了,此時容易得出與事實相反的結論。因此我們在進行測量時必須考慮到的負載特性及測試電路的阻抗匹配。在×1檔位時,信號直接進入示波器,這類在測試點處將其自身的電容(包括電纜的電容)與示波器的輸入阻抗連在了一起,這就是的負載效應。冷鏡式露點儀 密度繼電器校驗儀 sf6冷鏡法露點測試儀 定制定做


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