HNZDL系列可編程直流穩(wěn)壓電源 直流大電流恒流源 HNDL 可編程交流開關穩(wěn)壓電源 1000A

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059輸入電壓：AC380V±10℅,50Hz訂貨時需提前說明
輸出電壓：0％--100％可調輸出 或 固定輸出
輸出電流：0％--100％可調輸出 或 固定輸出
電源效應 lt; 0.3％ + 10mV
負載效應： < 0.1% + 10mV
上召開了多次有關諧波問題的學術會議，不少和學術組織都制定了限制電力系統(tǒng)諧波和用電設備諧波的標準和規(guī)定。諧波研究的意義，道德是因為諧波的危害十分嚴重。諧波使電能的生產、傳輸和利用的效率降低，使電氣設備過熱、產生振動和噪聲，并使絕緣老化，使用壽命縮短，甚至發(fā)生故障或燒毀。諧波可引起電力系統(tǒng)局部并聯(lián)諧振或串聯(lián)諧振，使諧波含量放大，造成電容器等設備燒毀。諧波還會引起繼電保護和自動裝置誤動作，使電能計量出現(xiàn)混亂。
產品特點：
1、顯示：輸出電壓電流LED顯示（可按客戶要求加證D液晶顯示）；
2、外觀：采用臺式、塔式或19英寸標準化尺寸，支持N+1冗余擴容，可組合放置于工作臺面及機架；
3、優(yōu)點：高頻PWM硬件調整軟開關控制技術使電源率，低紋波、低噪聲、高可靠性、體積小、重量輕；
4、恒壓恒流：輸出CC/CV恒壓恒流自動切換，電壓電流值從零到額定值連續(xù)線性調節(jié)；
5、保護功能：過壓保護（OVP)、過流保護(OCP)、過溫保護(OTP)、欠壓保護、過載保護

福祿克網站提供齊全的SF6氣體檢漏熱像儀培訓工具，包括詳細步驟說明。“高壓電氣設備的SF6泄漏檢測一向是破壞性的操作，造成昂貴的設備及設備停工費用?！备５摽藷岢上袷聵I(yè)部經理BrianKnight表示：“FlukeTi45SF6使這一過程方便到令人難以置信，能夠定期執(zhí)行泄漏檢測、發(fā)現(xiàn)問題，在定期維護期間即可修復泄漏問題?！盩i45SF6氣體檢漏熱像儀包含屢獲殊榮的LaserSharp激光自動對焦功能，利用內置激光測距儀高準確度計算和顯示被瞄準目標的距離，實現(xiàn)瞬時對焦，呈現(xiàn)一貫圖像；儀器還采用了FlukeIR-Fusion技術，將可見光圖像和紅外圖像組合在一幅圖像中，獲得更好清晰度。

功率直流電源主要由整流濾波電路，全橋變換電路，PWM控制電路，穩(wěn)壓、限壓電路，穩(wěn)流、限流保護電路，以及輔助電源電路等優(yōu)化組合而成。

本電源系列產品采用先進的IG逆變技術，通過數字模擬閉環(huán)反饋，微處理器控制PWM脈寬控制器，控制能量輸出自由度高，恒流、恒壓精度高，動態(tài)響應速度快，承受沖擊帶載能力強，允許負載變化范圍大（短路/空載）。使得輸入電壓在電網的不斷變化和負載的變化之下，都能使輸出產生自適應并保持輸出電流和電壓恒定于設定值，從而確保電鍍生產線的運轉。

半導體生產流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關知識經常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

停機時把調節(jié)旋鈕調至較小位置并切斷電源開關，把啟動、停止開關撥至停止位置。

10.8、自動計時功能（500A以下自動機型才有）：自動計時功能是檢測輸入電流是否大于5A，大于5A則開始記時，時控開關‘時控關’，到預置時間報警，并把電流降到10%額定電流以內，工件拿出后，時控不工作，待下一工件放下開始自動工作。當使用電流小于5A時

直流大電流恒流源 HNDL 可編程交流開關穩(wěn)壓電源 1000A