HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 三相交流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗裝置 定制定做 三相電測儀表校驗臺

車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標準源，軟件校準。各項輸出均采用動態(tài)負載自動調(diào)整技術(shù),降低了負載調(diào)整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號處理器（DSP）、復雜可編程邏輯陣列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式計算機系統(tǒng)設計而成，將系統(tǒng)、測試和信號高度集成，體積小，重量輕，可靠性極高，功能性極強。用于檢測數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

一般來說，示波器都必須具備雙軌跡輸出顯示裝置，同時內(nèi)建有IEEE-48IEEE-1394或RS-232等介面功能以便與繪圖儀器連結(jié)，而利于后續(xù)量測顯示資訊輸出與繪圖的研究比較之用。只是示波器缺點在于只侷限于低頻信號，對于高頻信號的便成為一大挑戰(zhàn)。頻譜儀的優(yōu)勢，正是在于彌補示波器針對高頻信號的不足，并可同時將多頻信號以頻域的方式來呈現(xiàn)，以方便辨識各不同頻率的功率裝置，并顯示信號在頻域里的特性。
 技術(shù)參數(shù)：

整機有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調(diào)節(jié)范圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

準確度：0.05%RG

 交直流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調(diào)節(jié)范圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

準確度： 0.05%RG

     三相交流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗裝置 定制定做 三相電測儀表校驗臺電噴霧離子源是一種軟電離技術(shù),一般只生成(MH)和(M-H)-兩種分子離子峰,選擇性監(jiān)測(mz)190的負分子離子峰,具有較高的靈敏度、準確度、專一性,滿足了低濃度研究的需求。由張莉等人研究的三維液相色譜法可以同步測定葛根素和阿魏酸兩種指標。通過實驗證明:如果選擇合適的柱溫等色譜條件,乙醇作為反相液相色譜流動相,中藥及中成藥中有效成分,既**又準確。結(jié)構(gòu)相似的物質(zhì),普通的檢測器難以檢測出來,液相色譜-電化學法可以有效地測定黃連粉中僅差一個基團的黃芩苷和黃芩素的含量。頻率設置：在源關(guān)閉狀態(tài)可通過鼠標選中液晶屏的頻率編輯框設置頻率。頻率設置范圍是40Hz～70Hz，分辨率為0.0001Hz 。超出范圍將會自動按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過面板按鍵編輯器進行頻率設置：對交流源的頻率信號進行調(diào)節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz；若交流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出交流源，源幅度為量限幅度。光標指示當前欲調(diào)節(jié)細度，按【←】鍵可左移光標，按【→】鍵可右移光標。確定好調(diào)節(jié)細度后旋轉(zhuǎn)編碼器可對頻率信號進行升/降調(diào)節(jié)

工程師在設計一款產(chǎn)品時用了一顆9A的MOS管，量產(chǎn)后發(fā)現(xiàn)壞品率偏高，經(jīng)重新計算后，換成了一顆5A的MOS管，問題解決。為什么用電流裕量更小的器件，卻能提高可靠性呢？工程師在設計的過程中非常注意元器件性能上的裕量，卻很容易忽視熱耗散設計，案例我們放到后說，為了幫助理解，我們先引入一個概念：其中Tc為芯片的外殼溫度，PD為芯片在該環(huán)境中的耗散功率，Tj表示芯片的結(jié)點溫度，目前大多數(shù)芯片的結(jié)點溫度為150℃，Rjc表示芯片內(nèi)部至外殼的熱阻，Rcs表示外殼至散熱片的熱阻，Rsa表示散熱片到空氣的熱阻，一般功率器件用Rjc進行計算即可。

直流標準源參數(shù)操作

當用鼠標選中標準源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項時，標準源視窗將處于直流標準源狀態(tài)。此時所有交流源參數(shù)將處于變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進行操作。

在直流標準源輸出前可以對直流標準源的量限進行設置；設置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設定的標準直流信號。

對于直流參數(shù)的設置與修改可以通過兩種方式:

方式一：直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當前選擇的量限百分比進行輸出。若直流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出直流源，若直流源已處于輸出狀態(tài)，則直接按量限百分比輸出相應幅度。

而如果C的容值越小，對電路的影響也就越小。但限于目前的測試系統(tǒng)，C3和串聯(lián)后的電容值是幾個pF的級別，而C1通常是20~30pF，所以儀器對負載電容量的影響在10%以上，終會導致測量結(jié)果產(chǎn)生幾個ppm（單位，百萬分之一）的頻率偏差，通常電路設計對晶體頻偏的要30ppm左右，所以這個影響還是不能忽視的。但如果使用頻譜儀，配合近場測試，因為僅在空間上有電磁場的耦合，所以儀器的影響可以忽略。