HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
HN系列 雷電沖擊發(fā)生器 油浸式試驗(yàn)變壓器 多倍頻發(fā)生器產(chǎn)品簡介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

LP8758就是業(yè)內(nèi)進(jìn)多相位轉(zhuǎn)換器的示例，它是處理器電源的理想選擇。它具有低IQ，小總體解決方案尺寸，16A峰值電流能力，低紋波和快速瞬態(tài)。在多個(gè)電感器，而不是在一個(gè)電感器內(nèi)儲(chǔ)存電能，降低了電感器尺寸。這使得設(shè)計(jì)人員能夠使用具有小芯片電感器的LP8758，使得解決方案尺寸減小到60mm2以下。如所示，每個(gè)輸出稍微運(yùn)行在相位之外。由于紅色和藍(lán)色的相位電流在相位之外，它們能夠組合在一起，而又不會(huì)在輸出上導(dǎo)致較大的紋波。

沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

使用變頻技術(shù)可以大量節(jié)能，我國的變頻技術(shù)改造，將需求大量的電流傳感器，這將是磁傳感器的又一巨大的產(chǎn)業(yè)性應(yīng)用領(lǐng)域。能源管理電網(wǎng)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)需采集大量的數(shù)據(jù)，經(jīng)計(jì)算機(jī)處理之后，對(duì)電網(wǎng)的運(yùn)行狀況實(shí)施監(jiān)控，并進(jìn)行負(fù)載的分配調(diào)節(jié)和**保護(hù)。自動(dòng)監(jiān)控系統(tǒng)的各個(gè)控制環(huán)節(jié)，是用磁傳感器為基礎(chǔ)的電流傳感器、互感器等來實(shí)現(xiàn)。霍爾電流傳感器早已在電網(wǎng)系統(tǒng)中得到應(yīng)用，用霍爾器件作成的電度表可自動(dòng)計(jì)費(fèi)并可顯示功率因數(shù)，以便隨時(shí)進(jìn)行調(diào)整，保證用電。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

傅立葉變換紅外光譜技術(shù)結(jié)合其多種形式的非接觸測(cè)量方式，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)氣體的主被動(dòng)測(cè)量，非常適合用于化工業(yè)園區(qū)的排放現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)測(cè)。FTIR技術(shù)用于氣體定量存在兩個(gè)主要問題，一是氣體分子吸收截面受氣壓、溫度影響明顯，二是FTIR系統(tǒng)的分辨率一般遠(yuǎn)小于氣體分子譜線的展寬，儀器線型受到干涉圖采樣，切趾和輻射入射立體角等因素影響。這些影響因素使得表觀譜線產(chǎn)生難以忽略的偏移和展寬。20世紀(jì)80年代后期，隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)迅速發(fā)展，儀器，計(jì)算機(jī)控制等現(xiàn)代化手段在大氣環(huán)境監(jiān)測(cè)中得到了廣泛應(yīng)用，自動(dòng)連續(xù)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)相繼問世。