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HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
生產(chǎn)廠家 沖擊電壓試驗(yàn)裝置 油浸式試驗(yàn)變壓器 交流耐壓測試儀產(chǎn)品簡介:
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn),檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。
微型傳感器不僅僅指傳感器的體積小、質(zhì)量輕。就單一的傳感器而言,微傳感器是指尺寸微小的傳感器,如敏感元件的尺寸從微米級到毫米級、甚至達(dá)到納米級,主要采用精密加工、微電子以及微機(jī)電系統(tǒng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)傳感器尺寸的縮小;就集成的傳感器而言,微傳感器是指將微小的敏感元件、信號處理器、數(shù)據(jù)處理裝置封裝在一塊芯片上而形成的集成傳感器;就傳感器系統(tǒng)而言,微傳感器是指傳感系統(tǒng)中不但包括微傳感器,還包括微執(zhí)行器,可以立工作,甚至由多個(gè)微傳感器組成傳感器網(wǎng)絡(luò),或者可實(shí)現(xiàn)異地聯(lián)網(wǎng)。
沖擊測試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波(full)或截?cái)啵╟hopped) 的閃電突波(L.I)
MSX增強(qiáng)功能將重要的可見光細(xì)節(jié)信息,如:數(shù)字、標(biāo)簽等添加入實(shí)時(shí)拍攝、存儲和UltraMax(超級放大)熱圖像中,便于輕松。同類熱成像儀的靈敏度.2°C,獲得更出的圖像質(zhì)量和更精細(xì)的熱圖像。溫度范圍校準(zhǔn)高達(dá)2℃,測量溫度的目標(biāo)物。工程學(xué)覆蓋所有角度-更快成像-工作更舒適FLIRT6系紅外熱成像儀機(jī)具有的靈活性,能夠非常輕松地瞄準(zhǔn)、聚焦和使用。旋轉(zhuǎn)的聚光裝置可上下旋轉(zhuǎn)12度自動定向可切換屏幕數(shù)據(jù)為肖像視圖或風(fēng)景視圖快速的自動對焦、手動控制,以及更出色的成像快速通信即時(shí)生成數(shù)據(jù),更快速地返回決策借助無線途經(jīng)或FLIR工具(PC或Mac版)分享圖像和嵌入表數(shù)據(jù)。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征
本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作,手動或自動完成充放電過程,真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。
充電控制功能
系統(tǒng)采用恒流充電。
根據(jù)試驗(yàn)要求,調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間,能夠手動或者自動控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控制方式充電時(shí),根據(jù)設(shè)定值,自動充電并穩(wěn)定在充電電壓值上,延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。
動作控制
本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。
截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。
可控制本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。
手動/自動控制。
2 觸發(fā)控制
系統(tǒng)能夠手動、自動或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號可以立延時(shí)
提供緊湊的體積和模塊化架構(gòu),在單個(gè)機(jī)箱中支持多達(dá)512個(gè)通道。提供寬泛的可編程驅(qū)動/檢測電壓范圍,支持傳統(tǒng)應(yīng)用和當(dāng)前技術(shù)應(yīng)用。靈活的架構(gòu),提供每個(gè)引腳的可編程性-化靈活性,適用于應(yīng)用。管理與這些數(shù)字子系統(tǒng)相關(guān)的功率要求和功耗是實(shí)現(xiàn)高可靠性的關(guān)鍵。現(xiàn)代數(shù)字子系統(tǒng)采用兩個(gè)主要組件—高性能ASIC或FPGA,提供所有數(shù)字邏輯,定時(shí)和序列控制;和單片引腳電子(PE)器件,它們與數(shù)字邏輯接口,并為UUT或被測器件提供可編程電平()。