HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
30年經(jīng)驗(yàn) 沖擊電壓測(cè)試系統(tǒng) 變頻諧振串聯(lián)諧振 工頻交流耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

20世紀(jì)80年始，非制冷紅外焦平面陣列探測(cè)器在美國(guó)支持下發(fā)展起來(lái)的，在1992年研發(fā)完成后才對(duì)布。初期技術(shù)路線包括德州儀器研制的BST熱釋電探測(cè)器和霍尼韋爾研制的氧化釩（VOx）微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器。后來(lái)由于熱釋電技術(shù)本身的一些局限性，微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器逐漸勝出。2009年，L-3公司終宣布停止繼續(xù)生產(chǎn)熱釋電探測(cè)器。之后，法國(guó)的CEA/LETI以及德州儀器公司又分別研制了非晶硅（a-Si）微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器。

沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

為得到對(duì)比度和成像清晰度，需要用到幾種光源，檢查時(shí)由程序來(lái)選擇光源、顏色組合和光強(qiáng)，以達(dá)到視覺(jué)效果。為了確保識(shí)別的正確性，元件的高度必須小于8mm(從PCB板表面到元件頂端)。由于矢量成像技術(shù)用到的是幾何信息，所以元件是否旋轉(zhuǎn)、得到的圖形與參考模型大小是否一致都沒(méi)有影響，而且也和產(chǎn)品顏色、光照和背景等的變化無(wú)關(guān)。矢量成像檢查分三部進(jìn)行：矢量成像系統(tǒng)在元件影像圖上找出主要特征并將其分離出來(lái)，然后對(duì)這些顯著特征進(jìn)行測(cè)量，包括形狀、尺寸、角度、弧度和明暗度等；檢查合成圖象和被測(cè)元件圖像主要特征的空間關(guān)系；后，不論元件旋轉(zhuǎn)角度、大小或相對(duì)其背景的總體外觀如何，它在線路板上的x、y和θ值都可通過(guò)計(jì)算確定下來(lái)。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

OTA測(cè)試可以將產(chǎn)品內(nèi)部輻射干擾、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、天線的因素、射頻芯片收發(fā)算法等因素考慮進(jìn)去，是非常接近產(chǎn)品實(shí)際使用場(chǎng)景的測(cè)試手段。我們以早的3GUESISOOTA測(cè)試為例來(lái)了解OTA測(cè)試所需的基本環(huán)境：吸波暗室，轉(zhuǎn)盤（控制UE旋轉(zhuǎn)）天線（在某一固置接收UE輻射信號(hào)）用于提供天線虛擬信號(hào)的無(wú)線測(cè)試平臺(tái)（如KeysightUXM系列，圖中未顯示）測(cè)量過(guò)程中將通過(guò)旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺(tái)來(lái)控制并測(cè)量UE天線在不同方向的輻射特性。