HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
生產(chǎn)廠家 沖擊電壓發(fā)生裝置 超低頻發(fā)生器 CVT變頻諧振交流耐壓裝置產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

PCIe是一個(gè)在很多領(lǐng)域中都有著廣泛且重要應(yīng)用的接口，經(jīng)過(guò)十幾年的發(fā)展，PCIe接口已經(jīng)從1.發(fā)展到現(xiàn)在的3.，4.也已即將開(kāi)始應(yīng)用。PCIe技術(shù)的物理層基于串行SerDes技術(shù)，因此用極少的物理連線就可以實(shí)現(xiàn)高速的數(shù)據(jù)傳輸。筆者在前段時(shí)間碰上了兩個(gè)PCIe接口失效的問(wèn)題，個(gè)經(jīng)過(guò)是PCIe的ESD防護(hù)沒(méi)有做好導(dǎo)致通訊中斷，個(gè)是電源負(fù)載過(guò)大導(dǎo)致PCIe供電異常，F(xiàn)PGAPCIeIPCORE邏輯時(shí)鐘失鎖。

沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

IT6100B高速度高精度可編程直流電源系列突破，提出CC/CV優(yōu)先權(quán)概念，可幫助用戶解決長(zhǎng)期測(cè)試應(yīng)用中的嚴(yán)苛問(wèn)題，使需求電源高速或者無(wú)過(guò)沖等應(yīng)用變得更加靈活，更節(jié)約了測(cè)試設(shè)備購(gòu)置成本。高速度高精度可編程直流電源系列CC/CV優(yōu)先權(quán)概念，用戶可通過(guò)電源菜單界面實(shí)現(xiàn)CC控制環(huán)，CV控制環(huán)優(yōu)先級(jí)別設(shè)定，滿足多元化多領(lǐng)域的應(yīng)用，無(wú)需額外采購(gòu)，的節(jié)約了成本。在以電流優(yōu)先模式工作時(shí)，通過(guò)加快CC環(huán)路的響應(yīng)速度，當(dāng)電流爬升至恒流設(shè)定值時(shí)，CC環(huán)路優(yōu)先于CV環(huán)路起作用，快速響應(yīng)并有效的控制電流停止爬升，避免電流的過(guò)沖，以便得到干凈、良好的性能，同時(shí)擁有快速電流上升時(shí)間和過(guò)沖。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

在實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中，電容老化測(cè)試設(shè)備內(nèi)部可編程電源輸出的合理紋波和數(shù)米長(zhǎng)線纜上耦合的高頻噪聲容易干擾漏電流檢測(cè)結(jié)果?？删幊屉娫摧敵鼋?jīng)過(guò)數(shù)米長(zhǎng)線纜后，終注入電容LC測(cè)試功能模塊。當(dāng)干擾噪聲嚴(yán)重時(shí)，現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際測(cè)量的u漏電流結(jié)果誤差增大，甚至可能出現(xiàn)負(fù)值，造成產(chǎn)品測(cè)試異常，帶來(lái)終端客戶抱怨。我們?nèi)绾尾拍茉诠S內(nèi)部復(fù)雜電磁環(huán)境下確保電容樣品漏電流特性的高精度測(cè)量呢？下面分享某電容老化測(cè)試客戶高精度供電干擾改善案例，利用TDK-Lambda業(yè)界的可編程電源匹配合理外圍方案，從而解決傳統(tǒng)電容老化客戶普遍面臨的痛點(diǎn)問(wèn)題。