安規(guī)測試儀檢定裝置有以下幾種 回路電阻測試儀檢定裝置 耐電壓測試儀校驗裝置 HN系列 絕緣電阻表檢定裝置 長期供應(yīng)

HN8061A

依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T磁耦器件可提供5000Vrms/min及6000V/10sec的電壓隔離保護(hù)，多種型號的磁耦帶有±15KV的ESD保護(hù)。長壽命。采用芯片級變壓器技術(shù)傳輸信號，消除光耦傳輸時的器件損耗。器件內(nèi)部基本不存在損耗，正常工作條件下至少達(dá)到50年工作壽命。低功耗。磁耦基于芯片級變壓器傳輸原理，信號傳輸時幾乎不存在能量損耗，因此能以極低的功耗實現(xiàn)高度的數(shù)據(jù)隔離。相同速率下，其功耗僅為光耦的1/10~1/6。電源隔離信號通道做隔離后，建議電源通道也做隔離，可直接采用帶隔離的DC-DC隔離模塊實現(xiàn)，如下圖所示。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進(jìn)口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調(diào)節(jié)范圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點。如何可靠地校準(zhǔn)這些校準(zhǔn)器，保證可靠地量值溯源性，是一項技術(shù)性很強的工作。目前國內(nèi)各有些校準(zhǔn)實驗室在校準(zhǔn)這些校準(zhǔn)器的工作中，還存在一些問題。有時候，其校準(zhǔn)不確定度并不能滿足技術(shù)要求。本文對這些問題做了，并提出了解決方法。存在的問題校準(zhǔn)儀器時，有一個基本的要求，就是要求被校儀器的不確定度遠(yuǎn)大于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的不確定度。它們之間的比率稱為不確定度比率TUR。一般要求TUR至少大于4:1或者3:1。達(dá)到要求，可以開展校準(zhǔn)或檢定；達(dá)不到要求，只能進(jìn)行儀器間的比對測量。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準(zhǔn)度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準(zhǔn)度：1級  0.5級  0.2級諸如穩(wěn)定性、增益壓縮、功率效率和失真測量越來越引起工程師們的重視?；?672系列矢量網(wǎng)絡(luò)儀的大功率輸出（部分頻段典型值+17dBm）和豐富的先進(jìn)校準(zhǔn)技術(shù)（包括源和接收機功率校準(zhǔn)，SOLT，TRL，非插入校準(zhǔn)和Ecal等）開發(fā)的放大器增益壓縮測量選件，所采用的二維掃描技術(shù)克服了傳統(tǒng)測量方法只能點頻測量的缺陷，地提高了測量效率，通過功率校準(zhǔn)和誤差修正，使測量結(jié)果更加準(zhǔn)確。僅需一次設(shè)置，經(jīng)過向?qū)?zhǔn)，連接被測件，就可以得到放大器在所有設(shè)置頻點的增益壓縮參數(shù)和線性參數(shù)。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量范圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz1×、10×這些名稱的由來，是因為之前的示波器沒有自動識別衰減系數(shù)和自動調(diào)節(jié)的能力，所以需要通過1×、10×這些名稱來提醒測試者記得要把測量出來的結(jié)果乘以相應(yīng)的倍數(shù)。帶寬帶寬也同樣是一個必備的參數(shù)，指的是導(dǎo)致信號衰減-3dB情況下的頻率點。如下圖所示：如100MHz就有100MHz帶寬，500MHz就有500MHz帶寬。一些，還會有一個低頻的帶寬頻率，比如一些AC，不能傳遞DC信號，它在低頻段會有一個帶寬參數(shù)。

HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。是全實物測試，將待測裝備置于演習(xí)或?qū)嶋H戰(zhàn)區(qū)，利用實際存在的復(fù)雜電磁環(huán)境對裝備性能進(jìn)行測試。此種方式具說服力，通常作為成熟型號裝備的終測試方法。因為此方式成本極高、風(fēng)險大，很多場合是破壞性測試，并且所得到測試結(jié)果不具備遍歷性，無法滿足裝備研制過程中的絕大多數(shù)的常規(guī)測試需求。種是基于計算機、數(shù)據(jù)庫等技術(shù)的全數(shù)字仿真測試。這種技術(shù)是通過數(shù)據(jù)采集或者數(shù)學(xué)建模的方式，將實際電磁環(huán)境的主要特征信息以數(shù)字格式存儲于數(shù)據(jù)庫中，在某種特定仿真算法的驅(qū)動下，對待測裝備的性能進(jìn)行全數(shù)字仿真測試。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調(diào)。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。

回路電阻測試儀檢定裝置 耐電壓測試儀校驗裝置 HN系列 絕緣電阻表檢定裝置 長期供應(yīng)大數(shù)據(jù)、挖掘和應(yīng)用仍需進(jìn)一步研究利用和推廣。，互操作技術(shù)方案復(fù)雜。網(wǎng)絡(luò)部署完成以后，23G和4G網(wǎng)絡(luò)將長期并存，考慮到4G網(wǎng)絡(luò)的覆蓋逐步完善，因此網(wǎng)絡(luò)部署必須考慮網(wǎng)絡(luò)間的互操作。蜂窩系統(tǒng)既要支持4G系統(tǒng)內(nèi)互操作(LTEFDD和TD-LTE混合組網(wǎng))，同時也要支持4G與2G/3G的互操作。由于3G和2G系統(tǒng)的性，4G與2G/3G系統(tǒng)互操作面臨著較多的技術(shù)難題，如移動推動的語音解決方案CSFB至GSM與國外主流運營商語音解決方案存在較大區(qū)別，電信TD-LTE與CDMA系統(tǒng)之間的互操作更是沒有先例，VoLTE與2G/3G的切換流程比較復(fù)雜，同時FDD和TD-LTE混合組網(wǎng)技術(shù)上也需要進(jìn)一步完善。