安規(guī)測試儀檢定裝置有以下幾種 回路電阻測試儀校驗儀 耐壓測試儀檢定裝置 HN系列 絕緣電阻表檢定裝置 30年經(jīng)驗

HN8061A

依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T由于壓鑄過程中，模具溫度失控會造成主線縮痕，砂孔，裂縫，氣泡等缺陷，壓鑄行業(yè)的模具溫度需要通過紅外技術(shù)監(jiān)控。那么，紅外技術(shù)是如何應(yīng)用在壓鑄行業(yè)，保證模具溫度快速調(diào)整并**作業(yè)的呢？對于模具的表面溫度進行實時監(jiān)控在無需中斷生產(chǎn)流程的情況下，即可有效的防止鑄造過程中存在的問題，及時將其扼殺在萌芽狀態(tài)。由于不必要的使用溫度調(diào)節(jié)，壓縮空氣，水基潤滑劑，脫模劑等，造成加工過程中模具溫度過高或者過低對于零件的質(zhì)量，模具的使用壽命，生產(chǎn)周期以及能源消耗和維護成本等產(chǎn)生的負面影響。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調(diào)節(jié)范圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點。其中EMI包括：CE（傳導干擾），RE（輻射干擾），PT(干擾功率測試)等等。EMS包括：ESD(靜電放電），RS（輻射耐受），EFT/B(快速脈沖耐受)，surge（雷擊），CS（傳導耐受）等。常見的擾源顯然，EMC設(shè)計的目的就是使所設(shè)計的電子設(shè)備或系統(tǒng)在預期的電磁環(huán)境中能夠?qū)崿F(xiàn)電磁兼容。換而言之,就是說設(shè)計的電子設(shè)備或系統(tǒng)必須能夠滿足EMC標準規(guī)定的兩方面的能力。常見EMC測試項目電磁干擾（EMI）的原理EMI的產(chǎn)生原因形式的電磁干擾是影響電子設(shè)備兼容性的主要原因。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級如果套管內(nèi)部存在缺陷，也可能導致套管異常發(fā)熱。在這種情況下，發(fā)生故障套管的整體溫度一般較其他正常的兩相高（如下圖紅外熱像儀應(yīng)用在套管上）。如果套管內(nèi)部或外部接頭存在接觸，或接點被氧化腐蝕，也可能導致套管接觸點溫度異常。在這種情況下，發(fā)生故障套管接觸點就會表現(xiàn)出觸點的溫度明顯高于其他正常的點或線路或套管。變壓器套管熱缺陷的紅外熱像儀應(yīng)用檢測依據(jù)根據(jù)DL/T664-20089.1電流致熱型設(shè)備的判斷：套管將軍帽與外部接線板或內(nèi)部導電桿接觸是電流致熱故障，判斷依據(jù)如下：套管內(nèi)部存在缺陷的情況比較復雜：有可能是電壓致熱故障所引起的，也有可能是套管機械損傷造成的。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量范圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz直線度公差指單一實際直線允許的變動全量。用于控制平面或空間直線的形狀誤差，其公差帶根據(jù)不同的情況有幾種不同的形式。直線度的測量自動測量能給工作人員提供準確的信息，保證軋材符合標準。光電法測量光電法測量是以三臺測徑儀為基礎(chǔ)進行檢測的，可以用于測量運動中的線、棒、管的外輪廓的直線度。布置上圖的的設(shè)備3臺，三臺設(shè)備同一時刻測量被測工件的位置數(shù)據(jù)左邊和右邊兩臺采集的位置連線，計算出中間設(shè)備的在直線度為0時的理論位置，與中間一臺所獲的的位置數(shù)據(jù)比較，差值即為被測工件在當前位置的直線偏差如下圖所示。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。另外，重心法需要使用至少兩根譜線，而且受窗函數(shù)主瓣寬度限制，頻率重心法所能支持的頻率下限只能達到頻率分辨率的三倍以上。由于頻率重心法沒有反饋過程，不依賴于信號，模擬電路實現(xiàn)簡單，理論上只要采樣率和使用的數(shù)據(jù)點足夠，就能得到正確的結(jié)果。特別地，因為同步采樣需要硬件電路，受限與成本與體積，大部分測量儀器只支持一到兩個PLL源，而頻率重心法無此限制，甚至可任意定義基波源（對應(yīng)于PLL源，用于確定基波）。應(yīng)用實例PA功率儀提供了三種諧波模式：常規(guī)諧波、諧波和IEC諧波。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調(diào)。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

回路電阻測試儀校驗儀 耐壓測試儀檢定裝置 HN系列 絕緣電阻表檢定裝置 30年經(jīng)驗我們可以想象一臺具有實驗室儀器的性能的、由電池供電的手持式光譜儀。屆時，很多目前無法支持的應(yīng)用都能夠被實現(xiàn)。傳統(tǒng)光譜方法大多數(shù)色散紅外（IR）光譜測量在開始時都采用同樣的測量方式。將被的光穿過一個小狹縫，它與控制儀器分辨率的光柵組合在一起。這個衍射光柵是一個專門設(shè)計用于以已知角度反射不同波長光的元件。這些波長的空間分離使得其它系統(tǒng)能夠以波長為基礎(chǔ)測量光強度。光譜測量的傳統(tǒng)架構(gòu)的主要差別在于色散光的測量方式。