2.5.1接線、拆線原則

l 測試前接線時(shí)應(yīng)按照“先儀器，后電池”的順序進(jìn)行接線，即：先接儀器端的連線，后接電池端的連線。

l 測試完畢，用戶拆線時(shí)應(yīng)按“先電池、后儀器”的順序進(jìn)行拆線，即先拆電池端的連線，后拆儀器端的連接。

2.5.2 放電電纜的連接

l 放電電纜線將測試儀的“放電電流接口”與電池組并接。

l 注：“正”（紅色）接電池組正極，“負(fù)”（黑色）接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反！

2.5.3 整組電壓采集線的連接

l 用整組電壓采集線將測試儀“整組電壓”與電池組正、負(fù)極并接。

l 注：整組電壓線的“正”（紅色夾子）接電池組正極，“負(fù)”（黑色夾接電池組負(fù)極。  嚴(yán)禁接反！

2.5.4 連接測試儀供電220V電源線。當(dāng)采用直流供電時(shí)不接。

數(shù)字或矢量調(diào)制可以提供更高的頻譜效率、更高的數(shù)據(jù)**性、更高質(zhì)量的通信。但其代價(jià)是系統(tǒng)的復(fù)雜性增加，進(jìn)而導(dǎo)致測試?yán)щy度提高。將矢量信號(VSA)添加到示波器，可以減少必需的測試儀器，并通過在單個(gè)儀器中整合來簡化測試過程。本文將介紹矢量信號和有效測量這種信號所需的工具。矢量狀態(tài)測量矢量或正交信號的產(chǎn)生通過在每一符號發(fā)送過程中發(fā)送多個(gè)位碼，從而實(shí)現(xiàn)高頻譜密度。考慮用每個(gè)發(fā)送符號對兩個(gè)數(shù)字位進(jìn)行編碼的正交相移鍵控(QPSK)。

2.6電量采集（選配）

l 測試儀工作于在線監(jiān)測時(shí)，電量采集器用于監(jiān)測電池組的充放電電流。

l 測試儀工作于放電測試時(shí)，電量采集器用于測戶設(shè)備的放電電流。

l 電量采集器指示方向?yàn)殡姵亟M充電電流方向，請勿接反

2.7并機(jī)接線（選配）

l 必須具備兩臺(tái)儀器。

l 每臺(tái)儀器分別連接好測試線。

l 將兩臺(tái)儀器通過RS485接口連接一起。

按照存儲(chǔ)芯片MicroSD卡供電要求的范圍：2.7V-3.6V；不允許超出此范圍，否則，芯片在不穩(wěn)定的電壓下工作會(huì)有比較大的風(fēng)險(xiǎn)，甚至?xí)ㄆ恼９ぷ鲙碛绊?。需要考慮的是示波器的設(shè)置，究竟是否需要進(jìn)行20MHZ的帶寬限制？詳細(xì)的使用環(huán)境如下圖所示：如何去測試“高頻開關(guān)電源”噪聲IPAD剛引出來的那個(gè)端口可以當(dāng)做電源的源端，而通過后端的外圍模塊后在末端進(jìn)行測試的時(shí)候，電源通過了一段PCB走線，包括一些芯片回路，應(yīng)該存在高頻的噪聲，如果采用20MHZ的帶寬限制，實(shí)際上是將原本屬于模塊的噪聲給濾掉了，為此，我們進(jìn)行了對比測試進(jìn)行驗(yàn)證：步，我先驗(yàn)證IPAD的供電端在工作時(shí)的輸出，如下圖：通過直接驗(yàn)證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的；通過測試，我們發(fā)現(xiàn)在源端測量的電壓值在3.4V（500MHZ帶寬測量）左右，峰峰值29mV，是非常穩(wěn)定的供電；可以排除源端供電的問題，接下來，我們直接在通過整個(gè)模塊后在MicroSD卡的供電腳SDVCC對電行測量，如下圖：當(dāng)我們在圖片上的點(diǎn)進(jìn)行測試的時(shí)候，發(fā)現(xiàn)在高頻開關(guān)電源上有相當(dāng)大的噪聲，使得電壓超出了規(guī)范要求的范圍，值達(dá)到了3.814V，峰峰值達(dá)854mV；但當(dāng)我們將示波器設(shè)置為20MHZ帶寬的時(shí)候，高頻開關(guān)電源變的非常好，完全在供電要求的范圍內(nèi)；正如在本文開頭描述的，在本次高頻開關(guān)電源測試過程中，已經(jīng)不是高頻開關(guān)電源紋波測量，而應(yīng)該是噪聲。