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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:蓄電池容量測(cè)試儀 整組蓄電池充放電測(cè)試儀 單體蓄電池放電儀 量大價(jià)優(yōu)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波(full)或截?cái)啵╟hopped) 的閃電突波(L.I)蓄電池容量測(cè)試儀 整組蓄電池充放電測(cè)試儀 單體蓄電池放電儀 量大價(jià)優(yōu)
詳情介紹:

HN1015A蓄電池充放電,活化測(cè)試儀 蓄電池容量測(cè)試儀 整組蓄電池充放電測(cè)試儀 單體蓄電池放電儀 量大價(jià)優(yōu)

蓄電池容量測(cè)試儀 整組蓄電池充放電測(cè)試儀 單體蓄電池放電儀 量大價(jià)優(yōu)

具有對(duì)蓄電池組進(jìn)行內(nèi)阻測(cè)試、容量評(píng)估功能。具有對(duì)蓄電池組多項(xiàng)指標(biāo)性能進(jìn)行在線監(jiān)測(cè)的功能:在電池組處于在線放電、均充、浮充狀態(tài)下,可對(duì)電池組以及每個(gè)單體電池進(jìn)行實(shí)時(shí)在線監(jiān)測(cè),監(jiān)測(cè)內(nèi)容包括:電池整組電壓、每一節(jié)單體電池電壓、電池組充放電電流、電池組監(jiān)測(cè)時(shí)間、電池組充放電容量等指標(biāo)。

主機(jī)接線說明

2.5.1接線、拆線原則

測(cè)試前接線時(shí)應(yīng)按照“先儀器,后電池”的順序進(jìn)行接線,即:先接儀器端的連線,后接電池端的連線。

測(cè)試完畢,用戶拆線時(shí)應(yīng)按“先電池、后儀器”的順序進(jìn)行拆線,即先拆電池端的連線,后拆儀器端的連接。

2.5.2 放電電纜的連接

放電電纜線將測(cè)試儀的“放電電流接口”與電池組并接。

注:“正”(紅色)接電池組正極,“負(fù)”(黑色)接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反!

2.5.3 整組電壓采集線的連接

用整組電壓采集線將測(cè)試儀“整組電壓”與電池組正、負(fù)極并接。

注:整組電壓線的“正”(紅色夾子)接電池組正極,“負(fù)”(黑色夾接電池組負(fù)極。  嚴(yán)禁接反!

2.5.4 連接測(cè)試儀供電220V電源線。當(dāng)采用直流供電時(shí)不接。

差分平衡參數(shù)測(cè)試的應(yīng)用背景隨著信息產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展,對(duì)網(wǎng)絡(luò)帶寬的需求越來越高,就需要信息設(shè)備(如大型服務(wù)器、超級(jí)計(jì)算機(jī)和交換機(jī)等)能夠承載的數(shù)據(jù)速率越來越快。目前,信息設(shè)備中均采用差分平衡方式進(jìn)行高速數(shù)據(jù)的傳輸,信息設(shè)備生產(chǎn)商對(duì)這類高速互連通道的信號(hào)完整性問題也愈發(fā)重視,差分平衡參數(shù)是其中一個(gè)重要測(cè)試項(xiàng)。差分平衡參數(shù)測(cè)試原理平衡器件的定義傳統(tǒng)的射頻微波器件是單端的,即單輸入單輸出,且輸入輸出接口上的信號(hào)有共同的參考地平面,如所示。蓄電池容量測(cè)試儀 整組蓄電池充放電測(cè)試儀 單體蓄電池放電儀 量大價(jià)優(yōu)

2.6電量采集(選配)

測(cè)試儀工作于在線監(jiān)測(cè)時(shí),電量采集器用于監(jiān)測(cè)電池組的充放電電流。

測(cè)試儀工作于放電測(cè)試時(shí),電量采集器用于測(cè)戶設(shè)備的放電電流。

電量采集器指示方向?yàn)殡姵亟M充電電流方向,請(qǐng)勿接反

2.7并機(jī)接線(選配)

必須具備兩臺(tái)儀器。

每臺(tái)儀器分別連接好測(cè)試線。

將兩臺(tái)儀器通過RS485接口連接一起。

當(dāng)總線變?yōu)榭臻e時(shí),若RXD引腳輸出低電平,則可能導(dǎo)致MCU接收到錯(cuò)誤數(shù)據(jù)或MCU在正常數(shù)據(jù)后誤接收1個(gè)000。RSM485PCHT門限電平數(shù)據(jù)發(fā)生了什么變化?如所示,1在AB差分電壓處于±200mV門限電平之內(nèi)時(shí)輸出高電平,2在AB差分電壓處于±200mV門限電平之內(nèi)時(shí)輸出低電平,可以看出,2可能導(dǎo)致MCU接收到錯(cuò)誤的數(shù)據(jù),并且在數(shù)據(jù)后誤接收到1個(gè)000數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)后多000如所示,若總線上持續(xù)存在數(shù)據(jù)信號(hào)或連續(xù)發(fā)送多個(gè)字節(jié)數(shù)據(jù),在數(shù)據(jù)之間存在的空閑狀態(tài)可能會(huì)被2識(shí)別為1個(gè)起始位,從而導(dǎo)致數(shù)據(jù)連續(xù)錯(cuò)誤。蓄電池容量測(cè)試儀 整組蓄電池充放電測(cè)試儀 單體蓄電池放電儀 量大價(jià)優(yōu)


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