在此基礎(chǔ)上，多T/R組件并行測試實現(xiàn)還是一個比較棘手的問題。概況來講，主要包括如下幾個方面的問題：測試資源競爭和死鎖問題測試資源競爭問題：在執(zhí)行過程中多個測試任務(wù)需要同時訪問一個資源所引起的問題，都需要矢量網(wǎng)絡(luò)儀怎么處理？死鎖問題：多個測試任務(wù)互相等待對方釋放自己所需資源，從而導致這些測試都無法繼續(xù)運行的問題。多線程測試任務(wù)管理問題并行測試是多線程執(zhí)行模式，這就出現(xiàn)了如何對這些測試任務(wù)進行全生命周期有效管理的問題。
HN10A互感器特性綜合測試儀華能 全自動伏安特性測試儀 HN10ACT儀 量大價優(yōu)

功能簡介：

測試互感器：PT、CT（保護類、計量類）、伏安特性（勵磁特性）曲線、自動給出點值、自動給出5%和10%的誤差曲線、變比測量、比差測量、相位（角差）測量、極性判斷、一次通流測試、交流耐壓測試、二次負荷測試、二次繞組測試、鐵心退磁等設(shè)計的多功能現(xiàn)場試驗儀器。

技術(shù)參數(shù)：

1、工作電源：AC220V±10% 、50Hz

2、設(shè)備輸出：0～2500Vrms， 5Arms（20A峰值）

3、大電流輸出：0～1000A

4、二次繞組電阻測量范圍：0.1～50Ω

5、二次繞組電阻測量準度：≤0.5%、分辨力0.01

6、二次實際負荷測量范圍：5～300VA

7、二次實際負荷測量準度：≤0.5%±0.1VA未來的發(fā)展趨勢將會是電子車牌識別逐步替代傳統(tǒng)車牌的識別方式。圖1汽車電子標識電子車牌的核心就是基于RFID技術(shù)的電子標簽，而RFID電子標簽又分為有源和無源的兩類，兩種標簽的優(yōu)缺點如表1所示。表1電子標簽對比考慮到電子車牌的使用壽命和使用場景，無源電子標簽具有壽命長、體積小易安裝、成本低廉的特點，更適合車輛安裝使用。在通信距離的選擇上，超高頻UHF86MHz~96MHz的無源RFID電子標簽具有通信距離長，傳輸速率快的優(yōu)點，其用作電子車牌的識別是一個非常不錯的選擇。

軟件使用說明 

11.1 將配套光盤放入計算機光驅(qū)中，解壓“軟件”至C盤根目錄。

11.2，安裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件，默認安裝地址即可。

11.3安裝完畢后，打開“伏安特性”文件夾，選擇打開“VATeXing.exe”操作軟件，如圖38即為上位機操作軟件。

11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇互感器種類“CT”或“PT”，應(yīng)用語言“中文”或“英文”。

11.5如需生成報告格式文件，必須載入試驗結(jié)果數(shù)據(jù)，具體操作方法如下：

a）、將存儲試驗數(shù)據(jù)的U盤連接至計算機。

b）、在圖38中選擇打開“選擇文件”，出現(xiàn)圖39操作窗口，在圖39中可根據(jù)需要載入所需文件。

c）、試驗結(jié)果數(shù)據(jù)說明：以“A”為開頭的數(shù)據(jù)為勵磁特性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“B”為開頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“C”為開頭的數(shù)據(jù)為負荷結(jié)果數(shù)據(jù)，以“D”為開頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。以“E”為開頭的數(shù)據(jù)為角差比差結(jié)果數(shù)據(jù)，以“T”為開頭的數(shù)據(jù)為暫態(tài)結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.6 載入數(shù)據(jù)結(jié)束后，選擇“確定”出現(xiàn)圖40界面，在此界面右上方設(shè)置相應(yīng)參數(shù)后，選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗結(jié)果的載入。

11.7 載入完成后，可根據(jù)需要選擇“保存”或打印結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.8  選擇“保存”選項，則以WORD的形式顯示結(jié)果如圖41。

11.9  如需繼續(xù)加載試驗結(jié)果數(shù)據(jù)，請先上次載入的數(shù)據(jù)。

工程師用四通道在線編程器P8-ISP對客戶樣機編程時，發(fā)現(xiàn)現(xiàn)象確如客戶所說的一致。憑著豐富的編程調(diào)試經(jīng)驗，我們的工程師將問題為芯片被誤操作，導致被加密，查閱芯片技術(shù)手冊后將根源鎖定到2個寄存器上。為了解決這個問題，工程師將P8-ISP的時序代碼作相應(yīng)的修改，在執(zhí)行擦除、編程操作之前，將2個寄存器的置位順序做了調(diào)整，使MCU處于解密狀態(tài)，確保芯片在編程過程中不會被誤加密。采用更新好時序的P8-ISP來燒寫MCU后，客戶的汽車電子標簽(OBU)燒片效率和良品率都有了明顯提高，百萬套OBU量產(chǎn)也不再是難事。

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

功能簡介：

1 勵磁特性試驗

2 變比試驗

3 相位和極性試驗

4 CT一次電流及負荷時的比差、角差測量

5 CT二次繞組電阻測量

6 CT二次回路負荷測量

7 CT暫態(tài)特性測試與

8 CT升流試驗

9 測量校核型號的CT、PT，包括保護CT、計量CT、TP級暫態(tài)CT、勵磁飽和電壓達到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.

10 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準確限值系數(shù)、儀表保安系數(shù)、二次時間常數(shù)、剩磁系數(shù)、準確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.

自動給出點電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準確限值系數(shù)（ALF）、 儀表保安系數(shù)（FS）、 二次時間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、準確級、飽和和不飽和電感等參數(shù)。

技術(shù)參數(shù)：

輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測量：準確度 ±0.1%
■ CT變比測量范圍：1~30000
■ PT變比測量范圍：1~30000華能 全自動伏安特性測試儀 HN10ACT儀 量大價優(yōu)，OPA209的典型PSRR是0.05uV/V。因此對于OPA209來說，電源變化1V時，失調(diào)偏移只有50nV(參見)。這一誤差與典型失調(diào)電壓(35uV)相比就無關(guān)緊要了。此外，高精度系統(tǒng)中的電源通常支持不足1V的電壓變量。因此您可能會認為：對于具有良好PSRR的器件(OPA209)來說電源變化產(chǎn)生的誤差可以忽略。問題是數(shù)據(jù)表中的規(guī)范是DCPSRR，而通常ACPSRR才是限制因素。