每年都有新發(fā)布，大家都在追逐更高的性能，除了主CPU頻率高以外，還需要關(guān)注GPU，同時(shí)RAM也要越大越好，存儲芯片對速度的影響，大家又知道多少呢？普及，諾基亞無可替代20世紀(jì)90年代，風(fēng)靡世界是諾基亞，他推出的1100,1110，3210等型號，占領(lǐng)了當(dāng)時(shí)80%市場。諾基亞里面集成了Intel的NorFlash芯片，他的快讀取速度僅為5MB/S，這個(gè)速度，應(yīng)付當(dāng)年的游戲“貪吃蛇”的應(yīng)用是足夠了。
HN10A互感器特性綜合測試儀電流互感器測試儀 電壓互感器現(xiàn)場測試儀 電壓互感器負(fù)載箱

功能簡介：

測試互感器：PT、CT（保護(hù)類、計(jì)量類）、伏安特性（勵(lì)磁特性）曲線、自動給出點(diǎn)值、自動給出5%和10%的誤差曲線、變比測量、比差測量、相位（角差）測量、極性判斷、一次通流測試、交流耐壓測試、二次負(fù)荷測試、二次繞組測試、鐵心退磁等設(shè)計(jì)的多功能現(xiàn)場試驗(yàn)儀器。

技術(shù)參數(shù)：

1、工作電源：AC220V±10% 、50Hz

2、設(shè)備輸出：0～2500Vrms， 5Arms（20A峰值）

3、大電流輸出：0～1000A

4、二次繞組電阻測量范圍：0.1～50Ω

5、二次繞組電阻測量準(zhǔn)度：≤0.5%、分辨力0.01

6、二次實(shí)際負(fù)荷測量范圍：5～300VA

7、二次實(shí)際負(fù)荷測量準(zhǔn)度：≤0.5%±0.1VA所以一定要保持一定的半徑，使在纖芯里傳輸時(shí)，避免產(chǎn)生一些不必要的損耗。。野外接續(xù)盒一定要密封好，防止進(jìn)水。熔接盒進(jìn)水后，由于光纖及光纖熔接點(diǎn)長期浸泡在水中，可能會光纖測試光纖在架設(shè)，熔接完工后就是測試工作，使用的儀器主要是OTDR測試儀或光源光功率計(jì)，用加拿大EXFO公司的FTB-100B便攜式中文彩色觸摸屏OTDR測試儀(動態(tài)范圍有32/337.5/340/345/43db),可以測試，光纖斷點(diǎn)的位置；光纖鏈路的全程損耗；了解沿光纖長度的損耗分布；光纖接續(xù)點(diǎn)的接頭損耗。

軟件使用說明 

11.1 將配套光盤放入計(jì)算機(jī)光驅(qū)中，解壓“軟件”至C盤根目錄。

11.2，安裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件，默認(rèn)安裝地址即可。

11.3安裝完畢后，打開“伏安特性”文件夾，選擇打開“VATeXing.exe”操作軟件，如圖38即為上位機(jī)操作軟件。

11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇互感器種類“CT”或“PT”，應(yīng)用語言“中文”或“英文”。

11.5如需生成報(bào)告格式文件，必須載入試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，具體操作方法如下：

a）、將存儲試驗(yàn)數(shù)據(jù)的U盤連接至計(jì)算機(jī)。

b）、在圖38中選擇打開“選擇文件”，出現(xiàn)圖39操作窗口，在圖39中可根據(jù)需要載入所需文件。

c）、試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)說明：以“A”為開頭的數(shù)據(jù)為勵(lì)磁特性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“B”為開頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“C”為開頭的數(shù)據(jù)為負(fù)荷結(jié)果數(shù)據(jù)，以“D”為開頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。以“E”為開頭的數(shù)據(jù)為角差比差結(jié)果數(shù)據(jù)，以“T”為開頭的數(shù)據(jù)為暫態(tài)結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.6 載入數(shù)據(jù)結(jié)束后，選擇“確定”出現(xiàn)圖40界面，在此界面右上方設(shè)置相應(yīng)參數(shù)后，選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗(yàn)結(jié)果的載入。

11.7 載入完成后，可根據(jù)需要選擇“保存”或打印結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.8  選擇“保存”選項(xiàng)，則以WORD的形式顯示結(jié)果如圖41。

11.9  如需繼續(xù)加載試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，請先上次載入的數(shù)據(jù)。

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

功能簡介：

1 勵(lì)磁特性試驗(yàn)

2 變比試驗(yàn)

3 相位和極性試驗(yàn)

4 CT一次電流及負(fù)荷時(shí)的比差、角差測量

5 CT二次繞組電阻測量

6 CT二次回路負(fù)荷測量

7 CT暫態(tài)特性測試與

8 CT升流試驗(yàn)

9 測量校核型號的CT、PT，包括保護(hù)CT、計(jì)量CT、TP級暫態(tài)CT、勵(lì)磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.

10 點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)、儀表保安系數(shù)、二次時(shí)間常數(shù)、剩磁系數(shù)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.

自動給出點(diǎn)電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)（ALF）、 儀表保安系數(shù)（FS）、 二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等參數(shù)。

技術(shù)參數(shù)：

輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測量：準(zhǔn)確度 ±0.1%
■ CT變比測量范圍：1~30000
■ PT變比測量范圍：1~30000電流互感器測試儀 電壓互感器現(xiàn)場測試儀 電壓互感器負(fù)載箱二維傅里葉變換Lamb波在時(shí)間和空間上都可以通過二維傅里葉變換轉(zhuǎn)換為二維各個(gè)離散頻率點(diǎn)的頻率G波數(shù)能量譜,從而分解出單個(gè)Lamb波,并可對其幅值進(jìn)行測量。單個(gè)波動組分在時(shí)間上的頻度稱為頻率,而在空間(距離)上的頻度稱為波數(shù).由頻率波數(shù)譜中某個(gè)波動組分的頻率和波數(shù),可以確定周期和波長。通過對接收信號的二維傅里葉變換,與理論計(jì)算得到的波數(shù)G頻率的頻散曲線進(jìn)行對比,從而確定檢測信號中包含的Lamb波模態(tài)。