HNWDL-8000溫升三相大電流發(fā)生器 青島華能專業(yè)定製 直流開關試驗裝置 價格實惠

又稱：大電流溫升試驗設備，大電流溫升試驗係統(tǒng)，大電流溫升試驗裝置

功能簡介：

     HNWDL-10000溫升三相大電流發(fā)生器主要用於母線槽，開關，開關櫃和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。

功能特點：

1）內(nèi)置高配置工控機，采用可編程控製器西門子S730PLC作為中心處理器，對交流信號進行實時掃描,實現(xiàn)監(jiān)測和閉環(huán)控製，並設計設置管理，隻有獲得相應操作權(quán)限的人員，才能進行某些功能的操作。RSENSE電流檢測另一方麵，因為電源設計中增加了電流檢測電阻，所以電阻也會產(chǎn)生額外的功耗。與其他檢測技術(shù)相比，檢測電阻電流監(jiān)測技術(shù)可能有更高的功耗，導致解決方案整體效率有所下降。電流檢測電阻也可能增加解決方案成本，雖然一個檢測電阻的成本通常在0.05美元至0.20美元之間。選擇檢測電阻時不應忽略的另一個參數(shù)是其寄生電感(也稱為有效串聯(lián)電感或ESL)。檢測電阻可以用一個電阻與一個有限電感串聯(lián)來正確模擬。

2）進口PC機15英寸真彩大液晶觸摸工業(yè)平板電腦操作，采用支持現(xiàn)場總線技術(shù)的智能型傳感器，實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳送的全數(shù)字化，顯示操作單元選用了觸摸式彩色液晶顯示屏，全中文菜單，界麵清晰直觀，操作簡單方便。測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，快捷、簡單、方便

3）本儀器測試方法有全自動測試與手動測試兩種方法，隻需設置簡單的試驗電流與時間即可。帶有自動穩(wěn)流係統(tǒng)，配有4個USB口，輕鬆U盤、打印機等多種設備。並以通過鼠標接口直接操作。提供RS232和RS485兩種通訊接口選擇，可與後臺計算機連接，通過RS232接口可以直接與電腦PC機通訊，可以打印曲線，提供電腦通訊軟件；實現(xiàn)數(shù)據(jù)和溫度曲線打??；但在下方和上方中間的變化情況，以及它的線性度則需要後邊仿真來確定。輸出電壓1.2全橋式改進電路普通全橋電路，傳感器上下兩線圈分彆與匹配電阻R3和R4相連，在L1=L2時電橋平衡，當向上發(fā)生△X的位移時，鐵芯上移，L1增大△L，L2減小△L，Uout的變化會比半橋方式增加近兩倍，輸出電壓如和對上下兩線圈分彆采用並聯(lián)和串聯(lián)電容C1和C2的方式，形成諧振回路I和回路II，通過後續(xù)仿真觀察這兩種方式電路性能的變化情況。

4）隻需設置好目標電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設定測試、電流和步長，省去手動調(diào)壓、人工記錄、描繪曲線等煩瑣勞動，減小勞動強度，提高工作效率也可工作結(jié)束後把數(shù)據(jù)讀到電腦上查看即可。

5）有超過限定值自動報功能具有可靠的過熱、過流、過壓及短路自我保護功能。交流調(diào)壓裝置保護應采用微機自動保護控製和機械微動限位開關雙重保護，確保恒流電源正常工作，提高產(chǎn)品的**性、可靠性。

不確定性是始終存在的，對誤差來源的評估可以幫助確定測量的不確定度。除上述外，還有一些相關術(shù)語在依據(jù)美國標準與技術(shù)研究所（NIST）或其它標準機構(gòu)的說明文件來描繪性能時會有用?？擅枋鲂允潜ＷC所有的測量器件有一個共同的基準所必須的。所謂“規(guī)範”是指保證性能由校準溯源到NIST的測試設備產(chǎn)生?！暗湫汀蓖馕吨阅苁菧y試，但不包括測量不確定因素?！跋笳餍浴钡谋憩F(xiàn)通常是補充信息，不是在每個儀器上的普遍測量。

主要技術(shù)指標：電流值由客戶根據(jù)需要確定

型號		HNWDL-8000A
大輸出電流		交流單相8000A  3組
電路方式		電動柱式調(diào)壓器
交流輸入	相線	3Φ4W +G
	電壓	380V±10%，50Hz±2%三相四線
	輸入電流	834A
輸出	相線	1Φ2W +G
	開路電壓	0-20V自動轉(zhuǎn)換
	電流	AC  0-8000A連續(xù)可調(diào)   準度：0.5
	穩(wěn)流準度	輸出電流≤±0.2%
	輸出端子	接線端子
	保護	電子電路快速偵測過電壓、過電流、過高溫自動跳脫保護及告裝置 非測試狀態(tài)電壓為零，電流為零

青島華能專業(yè)定製 直流開關試驗裝置 價格實惠X射線光譜儀的好壞常常是以X射線強度測量的理論統(tǒng)計誤差來表示的，BX係列波長色散X射線熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性，已足以保證待測樣品測量的精度，被樣品的製樣技術(shù)成為影響準確度的至關重要的因素，在樣品製備方麵所花的工夫?qū)从吃诮Y(jié)果的質(zhì)量上。X射線熒光儀器誤差的來源主要有以下幾個方麵：1.采樣誤差：非均質(zhì)材料樣品的代表性2.樣品的製備：製樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3.不適當?shù)臉藰樱捍郎y樣品是否在標樣的組成範圍內(nèi)標樣元素測定值的準確度標樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差：計數(shù)的統(tǒng)計誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現(xiàn)性5.不適當?shù)亩繑?shù)學模型：不正確的算法元素間的乾擾效應未經(jīng)校正顆粒效應純物質(zhì)的熒光強度隨顆粒的減小而增大，在多元素體係中，已經(jīng)證明一些元素的強度與吸收和增應有關，這些效應可以引起某些元素的強度增加和另一些元素的強度減小。