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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家
詳情介紹:

HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家產(chǎn)品簡介:

衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn),檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

適用範(fàn)圍:變壓器、電抗器、互感器及其它高壓電器、高壓晶閘管閥SVC(HVDC)、電力電纜、各類高壓絕緣子、套管等試品的標(biāo)準(zhǔn)雷電衝擊,雷電截?cái)嗖?,操作衝擊及用戶要求的非標(biāo)準(zhǔn)衝擊波的各類衝擊電壓試驗(yàn)。一套設(shè)備就可產(chǎn)生多種試驗(yàn)波形(標(biāo)準(zhǔn)的和非標(biāo)準(zhǔn)的波形,用戶提出來的波形)。 適用領(lǐng)域:質(zhì)檢鑒定計(jì)量檢測監(jiān)督機(jī)構(gòu),電力設(shè)備製造廠,鐵路通信,航天和航天飛行器,科研單位,大專院校以及氣象等部門的防雷和雷電試驗(yàn)。電子元器件的降額等級可以參考《標(biāo)準(zhǔn)——元器件降額準(zhǔn)則GJB/Z35-93》,一般可分成三個降額等級:Ⅰ級降額:I級降額是的降額,適用於設(shè)備故障將會危及**,導(dǎo)致任務(wù)失敗和造成嚴(yán)重經(jīng)濟(jì)損失的情況。Ⅱ級降額:工作應(yīng)力減小對元器件可靠性增長有明顯效益,適用於設(shè)備故障會使工作任務(wù)降級,或需支付不合理的維修費(fèi)用。Ⅲ級降額:Ⅲ級降額是的降額,相對來說元器件成本也較低。適用於設(shè)備故障對工作任務(wù)的完成隻有小的影響,或可迅速、經(jīng)濟(jì)地加以修複。

 

產(chǎn)品彆稱:衝擊電壓發(fā)生器,雷電衝擊電壓發(fā)生器試驗(yàn)裝置,雷電衝擊電流發(fā)生器,電壓發(fā)生器試驗(yàn)裝置

MOS管種類和結(jié)構(gòu)MOSFET管是FET的一種(另一種是JFET),可以被製造成增強(qiáng)型或耗儘型,P溝道或N溝道共4種類型,但實(shí)際應(yīng)用的隻有增強(qiáng)型的N溝道MOS管和增強(qiáng)型的P溝道MOS管,所以通常提到NMOS,或者PMOS指的就是這兩種。右圖是這兩種MOS管的符號。至於為什麼不使用耗儘型的MOS管,不建議刨根問底。對於這兩種增強(qiáng)型MOS管,比較常用的是NMOS。原因是導(dǎo)通電阻小且容易製造。所以開關(guān)電源和馬達(dá)驅(qū)動的應(yīng)用中,一般都用NMOS。衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家
HN
CJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

 

1、回路電感小,並采取帶阻濾波措施,在大電容量負(fù)載下能產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)衝擊波,負(fù)載能力大。

 

2、電壓利用係數(shù)高,雷電波和操作波分彆不低於85%80%

 

3、調(diào)波方便,操作簡單,同步性能好,動作可靠。按照存儲芯片MicroSD卡供電要求的範(fàn)圍:2.7V-3.6V;不允許超出此範(fàn)圍,否則,芯片在不穩(wěn)定的電壓下工作會有比較大的風(fēng)險(xiǎn),甚至?xí)ㄆ恼9ぷ鲙碛绊?。需要考慮的是示波器的設(shè)置,究竟是否需要進(jìn)行20MHZ的帶寬限製?詳細(xì)的使用環(huán)境如下圖所示:如何去測試“高頻開關(guān)電源”噪聲IPAD剛引出來的那個端口可以當(dāng)做電源的源端,而通過後端的外圍模塊後在末端進(jìn)行測試的時(shí)候,電源通過了一段PCB走線,包括一些芯片回路,應(yīng)該存在高頻的噪聲,如果采用20MHZ的帶寬限製,實(shí)際上是將原本屬於模塊的噪聲給濾掉了,為此,我們進(jìn)行了對比測試進(jìn)行驗(yàn)證:步,我先驗(yàn)證IPAD的供電端在工作時(shí)的輸出,如下圖:通過直接驗(yàn)證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的;通過測試,我們發(fā)現(xiàn)在源端測量的電壓值在3.4V(500MHZ帶寬測量)左右,峰峰值29mV,是非常穩(wěn)定的供電;可以排除源端供電的問題,接下來,我們直接在通過整個模塊後在MicroSD卡的供電腳SDVCC對電行測量,如下圖:當(dāng)我們在圖片上的點(diǎn)進(jìn)行測試的時(shí)候,發(fā)現(xiàn)在高頻開關(guān)電源上有相當(dāng)大的噪聲,使得電壓超出了規(guī)範(fàn)要求的範(fàn)圍,值達(dá)到了3.814V,峰峰值達(dá)854mV;但當(dāng)我們將示波器設(shè)置為20MHZ帶寬的時(shí)候,高頻開關(guān)電源變的非常好,完全在供電要求的範(fàn)圍內(nèi);正如在本文開頭描述的,在本次高頻開關(guān)電源測試過程中,已經(jīng)不是高頻開關(guān)電源紋波測量,而應(yīng)該是噪聲。衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置生產(chǎn)廠家

 

4、采用恒流充電自動控製技術(shù),自動化程度高,抗乾擾能力強(qiáng)。

 


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