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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置定製定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置定製定做
詳情介紹:

HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置定製定做衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置定製定做產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn),檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

適用範(fàn)圍:變壓器、電抗器、互感器及其它高壓電器、高壓晶閘管閥SVC(HVDC)、電力電纜、各類高壓絕緣子、套管等試品的標(biāo)準(zhǔn)雷電衝擊,雷電截?cái)嗖?,操作衝擊及用戶要求的非標(biāo)準(zhǔn)衝擊波的各類衝擊電壓試驗(yàn)。一套設(shè)備就可產(chǎn)生多種試驗(yàn)波形(標(biāo)準(zhǔn)的和非標(biāo)準(zhǔn)的波形,用戶提出來的波形)。 適用領(lǐng)域:質(zhì)檢鑒定計(jì)量檢測(cè)監(jiān)督機(jī)構(gòu),電力設(shè)備製造廠,鐵路通信,航天和航天飛行器,科研單位,大專院校以及氣象等部門的防雷和雷電試驗(yàn)。而如果C的容值越小,對(duì)電路的影響也就越小。但限於目前的測(cè)試係統(tǒng),C3和串聯(lián)後的電容值是幾個(gè)pF的級(jí)彆,而C1通常是20~30pF,所以儀器對(duì)負(fù)載電容量的影響在10%以上,終會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生幾個(gè)ppm(單位,百萬分之一)的頻率偏差,通常電路設(shè)計(jì)對(duì)晶體頻偏的要30ppm左右,所以這個(gè)影響還是不能忽視的。但如果使用頻譜儀,配合近場(chǎng)測(cè)試,因?yàn)閮H在空間上有電磁場(chǎng)的耦合,所以儀器的影響可以忽略。

 

產(chǎn)品彆稱:衝擊電壓發(fā)生器,雷電衝擊電壓發(fā)生器試驗(yàn)裝置,雷電衝擊電流發(fā)生器,電壓發(fā)生器試驗(yàn)裝置

在產(chǎn)品功能上,將所有軟硬件資源麵向電源測(cè)試需求深度優(yōu)化。在產(chǎn)品設(shè)計(jì)的時(shí)候我們堅(jiān)守兩個(gè)理念::圍繞電源測(cè)試的需求深度定製優(yōu)化;克製:去除電源測(cè)試不關(guān)注的通用功能避免冗餘。為什麼要選擇“電源行業(yè)”去做定製版示波器?,示波器是電源工程師的必備調(diào)試工具,在整個(gè)工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域占比,因此電源工程師的需求代表了研發(fā)工程師對(duì)示波器的主流需求。其次,通用示波器做電源測(cè)試不僅資源冗餘,同時(shí)冇有標(biāo)配專業(yè)的電源軟件。衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置定製定做
HN
CJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

 

1、回路電感小,並采取帶阻濾波措施,在大電容量負(fù)載下能產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)衝擊波,負(fù)載能力大。

 

2、電壓利用係數(shù)高,雷電波和操作波分彆不低於85%80%。

 

3、調(diào)波方便,操作簡(jiǎn)單,同步性能好,動(dòng)作可靠。APD的工作模式分為線性模式和蓋革模式兩種。當(dāng)APD的偏置電壓低於其雪崩電壓時(shí),對(duì)入射光電子起到線性放大作用,這種工作狀態(tài)稱為線性模式。在線性模式下,反向電壓越高,增益就越大。APD對(duì)輸入的光電子進(jìn)行等增益放大後形成連續(xù)電流,獲得帶有時(shí)間信息的激光連續(xù)回波信號(hào)。當(dāng)偏置電壓高於其雪崩電壓時(shí),APD增益迅速增加,此時(shí)單個(gè)光子吸收即可使探測(cè)器輸出電流達(dá)到飽和,這種工作狀態(tài)稱為蓋革模式。工作在蓋革模式下的APD又被稱作SPAD。衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置定製定做衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置定製定做衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置定製定做衝擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置定製定做

 

4、采用恒流充電自動(dòng)控製技術(shù),自動(dòng)化程度高,抗乾擾能力強(qiáng)。

 


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