HNDL係列全自動(dòng)大電流發(fā)生器測(cè)試係統(tǒng)單相大電流發(fā)生器 三相溫升試驗(yàn)設(shè)備 交流溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 30年經(jīng)驗(yàn)

是青島華能遠(yuǎn)見有限公司自主研製開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用於母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。則有效的保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測(cè)試單元包括：高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器（進(jìn)口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動(dòng)調(diào)壓輸出電流。擅長(zhǎng)“小型化”的日本廠家過去，電子產(chǎn)品的進(jìn)步主要是以半導(dǎo)體為中心的“小型化”的發(fā)展（也就是所謂的“摩爾定律”），同時(shí)附加很多功能。如今，電子產(chǎn)品的進(jìn)步主要是體現(xiàn)在當(dāng)今發(fā)展到頂點(diǎn)的智能、以智能手表（SmartWatch）為代表的可穿戴設(shè)備（WearableDevice）。這些產(chǎn)品都是通過電池驅(qū)動(dòng)且具有較高的計(jì)算（Computing）功能，另外也具備攝像、運(yùn)動(dòng)（Motion）、氣壓、溫度等多個(gè)傳感器。

特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測(cè)試無需外接任何輔助設(shè)備，全自動(dòng)控製，式操作，簡(jiǎn)單方便。

2、 帶有自動(dòng)穩(wěn)流係統(tǒng)，工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗乾擾能力強(qiáng)，輸出精度高，紋波係數(shù)小於0.2％，準(zhǔn)確度高於0.5%；。

4、 自動(dòng)試驗(yàn)隻需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測(cè)試電流，省去手動(dòng)調(diào)壓，減小勞動(dòng)強(qiáng)度，提高工作效率。運(yùn)行時(shí)間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級(jí)：B級(jí)

 由P區(qū)引出的電極為陽極，由N區(qū)引出的電極為陰極，如下圖所示，溫度對(duì)二極管的性能有較大的影響，這是由於半導(dǎo)體材料的特性所致，溫度升高時(shí)，二極管的正向壓降將減小，每增加1oC，正向壓降減小約2mV，可以從下圖看出，由半導(dǎo)體理論可以得出，PN結(jié)所加端電壓u與流過它的電流i的關(guān)係為：其中，Is為反向飽和電流，對(duì)於矽材料來說，Is約為10pA;q為電子的電量，q=1.6*10-9C；k是玻耳茨曼常數(shù)，k=1.38*10-23J/K；T為溫度，kT/q可以用UT來代替，則常溫下，即T=300K時(shí)，UT約為26mV。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運(yùn)行時(shí)段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高於0.5級(jí).電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高於國(guó)標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測(cè)被測(cè)元件的電流動(dòng)作時(shí)間。並可同步記錄鎖定動(dòng)作時(shí)間。常開、常閉觸點(diǎn)自動(dòng)判彆。測(cè)時(shí)範(fàn)圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.新一代無源光網(wǎng)絡(luò)(PON)Tyndall光電子封裝小組研究經(jīng)理Dr.LeeCarroll表示：“過去的十年見證了矽光子從出現(xiàn)到成為新一代信息通信技術(shù)應(yīng)用媒介的發(fā)展過程。采用麵對(duì)麵疊加法（3D集成）在矽光子集成電路(Si-PIC)頂部安裝驅(qū)動(dòng)器電子集成電路是一種基於光電子平臺(tái)實(shí)現(xiàn)高速電子解調(diào)與分配的實(shí)用方案。Tyndall研究院目前正在研發(fā)用於高速家用光纖網(wǎng)絡(luò)連接的新一代無源光網(wǎng)絡(luò)(PON)演示模塊。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測(cè)品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測(cè)品的輔助常閉觸點(diǎn)上。

2、打開儀器側(cè)麵空氣開關(guān)，等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點(diǎn)接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動(dòng)按鈕，即可通過點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動(dòng)歸零位)。

2) 自動(dòng)升流就選擇進(jìn)入“自動(dòng)試驗(yàn)”界麵如下圖：

自動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來設(shè)置輸出電流大小。做長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時(shí)間。如下圖：此方法運(yùn)行成本低、靈活便捷，通常用於裝備的前期開發(fā)過程中，偏重於對(duì)軟件算法的測(cè)試。然而由於逼真度低，與實(shí)際環(huán)境差異過大，對(duì)於正式裝備的性能測(cè)試僅具有參考作用，大多數(shù)場(chǎng)合無法作為終驗(yàn)證手段。種測(cè)試方法是半實(shí)物模擬測(cè)試，此方法是在前兩種方法有機(jī)結(jié)合的基礎(chǔ)上發(fā)展而來的。它利用數(shù)據(jù)采集或數(shù)學(xué)建模的方法組建數(shù)字化複雜電磁環(huán)境信息數(shù)據(jù)庫，根據(jù)實(shí)際測(cè)試場(chǎng)景需求，計(jì)算波形數(shù)據(jù)，基於複雜信號(hào)發(fā)生技術(shù)，通過波形發(fā)生的方式產(chǎn)生實(shí)際電磁信號(hào)，人為構(gòu)建高逼真度的複雜電磁環(huán)境，用於裝備性能測(cè)試。

1.在連接儀器測(cè)試線前，應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時(shí)，電流輸出線一定要緊固。試驗(yàn)時(shí)間≤300s。所述存儲(chǔ)所述第n個(gè)補(bǔ)償餘數(shù)具體包括：用第n個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償餘數(shù)覆蓋第n-1個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償餘數(shù)。一種應(yīng)用在電能表中RTC模塊的補(bǔ)償校準(zhǔn)裝置，包括：溫度測(cè)量模塊，用於根據(jù)測(cè)量的RTC模塊的晶體溫度獲取時(shí)鐘校準(zhǔn)所需的補(bǔ)償參數(shù)；控製模塊，用於根據(jù)所述補(bǔ)償參數(shù)和RTC模塊的補(bǔ)償單位計(jì)算補(bǔ)償校準(zhǔn)值和補(bǔ)償餘數(shù)，並根據(jù)所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值和所述補(bǔ)償餘數(shù)對(duì)RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)。所述控製模塊，具體用於在個(gè)補(bǔ)償周期中，按照所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值對(duì)所述RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)，並將所述補(bǔ)償餘數(shù)存入存儲(chǔ)模塊；所述存儲(chǔ)模塊，用於存儲(chǔ)所述補(bǔ)償餘數(shù)。