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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修 

JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。即使是今天日本的產(chǎn)品依舊具有“輕薄短小”的特點(diǎn),很多產(chǎn)品依舊很。一些粗糙、不精致的產(chǎn)品也隨處可見(jiàn)。是產(chǎn)的,可以實(shí)際用作通過(guò)通話和通信,其大小約是3個(gè)100的日元硬幣,幾乎小到難以使用。就這在樣小巧的產(chǎn)品中卻安裝了用於通信的芯片、雖簡(jiǎn)易卻具備可以進(jìn)行簡(jiǎn)單的運(yùn)行程序的處理器,雖然不能用於主要用途(MainUse),但是可以用於緊急情況(Emergency)下使用。正在竭儘全力開(kāi)發(fā)“輕薄短小”的產(chǎn)品像以上這樣的智能正誕生在。

JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

供熱管線一般鋪設(shè)在地下,受地麵沉降和熱脹冷縮的因素影響,管道可能會(huì)發(fā)生破損導(dǎo)致熱水流失,直接影響到供熱效果,並且造成大量的能源浪費(fèi),本文主要介紹使用便攜式紅外熱像儀在供熱管線破損檢測(cè)中的應(yīng)用,為保障供熱提供新的檢測(cè)手段。門(mén)廳臺(tái)階處供熱管道滲漏(本文熱像圖及現(xiàn)場(chǎng)圖片由袁星輝提供)供熱管線破損檢測(cè)的重要性:近年來(lái),由於供熱管網(wǎng)破損、漏水導(dǎo)致供熱效果降低甚至中斷供熱的事件日益增多,其原因主要有:管網(wǎng)老化、地麵沉降、車輛超載重壓、周邊施工等。JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修瑞利散射是光纖材料本身固有的性質(zhì),由於光纖內(nèi)部含有的雜質(zhì)、纖核添加物等產(chǎn)生漫反射,其中部分向後散射形成瑞利背向散射,光纖整個(gè)長(zhǎng)度上都呈現(xiàn)這種現(xiàn)象。而菲涅爾反射它隻是發(fā)生在光纖接觸到空氣時(shí)或發(fā)生在諸如機(jī)械的連接接縫處。光纖損耗的測(cè)量所依據(jù)的主要是瑞利散射原理;光纖斷點(diǎn)的測(cè)量所依據(jù)的主要原理是菲涅爾反射。瑞利散射損耗可用下式進(jìn)行近似計(jì)算:式中,λ以u(píng)m為單位,B是與石英和摻雜材料有關(guān)的常數(shù)。JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修


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