HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) JP櫃溫升測(cè)試儀HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。CAN總線應(yīng)用環(huán)境複雜多樣，可能會(huì)出現(xiàn)異常情況。本文列舉了常見(jiàn)的CAN接口異常情況及解決方法，幫您更加地及解決CAN接口應(yīng)用問(wèn)題。常見(jiàn)異常及解決方法1.兩個(gè)節(jié)點(diǎn)近距離測(cè)試，低波特率通信正常，高波特率無(wú)法通信?？赡茉颍何醇咏K端電阻。由於CAN收發(fā)芯片內(nèi)部CANCANL引腳為開(kāi)漏驅(qū)動(dòng)，如，在顯性狀態(tài)期間，總線的寄生電容會(huì)被充電，而在恢複到隱性狀態(tài)時(shí)，這些電容需要放電。如果CANCANL之間冇有放置任何阻性負(fù)載，電容隻能通過(guò)內(nèi)部阻值較大的差分電阻放電。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

其次需要關(guān)注測(cè)量?jī)x器的性如何，在不同量程範(fàn)圍時(shí)測(cè)量?jī)x器的準(zhǔn)確性是不同的，主要原因跟一定溫度範(fàn)圍內(nèi)傳感器（熱敏電阻器）的精度相關(guān)。溫度分辨率即具體在數(shù)顯屏上顯示時(shí)候的分辨率，如.1℃，在一定量程範(fàn)圍內(nèi)，測(cè)溫儀的分辨率越小，測(cè)得溫度越?？赐庥^這些測(cè)溫儀是否像他們保證的那樣？用於食品的測(cè)量技術(shù)必須符合當(dāng)前的標(biāo)準(zhǔn)和指令（HACCP，EN13485）。要對(duì)測(cè)量?jī)x進(jìn)行適當(dāng)?shù)姆莱北Ｗo(hù)。IP65到底代表什麼呢？IP是IngressProtection的縮寫,IP是用來(lái)認(rèn)定防護(hù)等級(jí)的代號(hào),IP等級(jí)由兩個(gè)數(shù)字所組成，個(gè)數(shù)字表示防塵；個(gè)數(shù)字表示防水，數(shù)字越大表示其防護(hù)等級(jí)越佳。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP櫃溫升測(cè)試儀HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)城建施工、洪水侵襲、人為破壞、地殼運(yùn)動(dòng)等人為行為或者天災(zāi)的破壞，都很容易造成光纖線路的故障。如何有效地保證光纖通信係統(tǒng)的可靠性，一直是一個(gè)有待解決的技術(shù)難題。本設(shè)計(jì)在光纖通信的基礎(chǔ)之上，通過(guò)對(duì)光纖通信監(jiān)測(cè)係統(tǒng)的可靠性進(jìn)行研究。以FPGA代替?zhèn)鹘y(tǒng)的MCU架構(gòu)完成數(shù)據(jù)的采集和處理，能完成高速的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集，測(cè)量誤差小，工作可靠性高。光纖通信係統(tǒng)的測(cè)量原理目前的光纖測(cè)量中，主要是要測(cè)量光纖的損耗和斷點(diǎn)。主要基於瑞利散射和菲涅爾反射兩種光學(xué)現(xiàn)象來(lái)進(jìn)行測(cè)量。