HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 三回路配電箱溫升測(cè)試儀HNDL JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。直尺法更像是我們找另一半的時(shí)候匹配星座和血型。為什麼這樣講呢？因?yàn)椋@種星座血型是兩個(gè)固定的數(shù)據(jù)，匹配起來(lái)非常簡(jiǎn)單，也非常迅速；而直尺法也是這樣，在效率上非常高。但是毋庸置疑，這種匹配星座和血型的方法，真的不一定準(zhǔn)……同樣，直尺法在對(duì)中的性也相對(duì)較低。然後根據(jù)身高，年齡，工作地點(diǎn)，未來(lái)規(guī)劃找另一半的方法，就與對(duì)中裡的表分表分很相似。這種放大需要的數(shù)據(jù)很多，而且對(duì)比起來(lái)真的很麻煩，還有變動(dòng)的可能，效率相對(duì)較低。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

所述存儲(chǔ)所述第n個(gè)補(bǔ)償餘數(shù)具體包括：用第n個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償餘數(shù)覆蓋第n-1個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償餘數(shù)。一種應(yīng)用在電能表中RTC模塊的補(bǔ)償校準(zhǔn)裝置，包括：溫度測(cè)量模塊，用於根據(jù)測(cè)量的RTC模塊的晶體溫度獲取時(shí)鐘校準(zhǔn)所需的補(bǔ)償參數(shù)；控製模塊，用於根據(jù)所述補(bǔ)償參數(shù)和RTC模塊的補(bǔ)償單位計(jì)算補(bǔ)償校準(zhǔn)值和補(bǔ)償餘數(shù)，並根據(jù)所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值和所述補(bǔ)償餘數(shù)對(duì)RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)。所述控製模塊，具體用於在個(gè)補(bǔ)償周期中，按照所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值對(duì)所述RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)，並將所述補(bǔ)償餘數(shù)存入存儲(chǔ)模塊；所述存儲(chǔ)模塊，用於存儲(chǔ)所述補(bǔ)償餘數(shù)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路配電箱溫升測(cè)試儀HNDL JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)OTA測(cè)試可以將產(chǎn)品內(nèi)部輻射乾擾、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、天線的因素、射頻芯片收發(fā)算法等因素考慮進(jìn)去，是非常接近產(chǎn)品實(shí)際使用場(chǎng)景的測(cè)試手段。我們以早的3GUESISOOTA測(cè)試為例來(lái)了解OTA測(cè)試所需的基本環(huán)境：吸波暗室，轉(zhuǎn)盤(pán)（控製UE旋轉(zhuǎn)）天線（在某一固置接收UE輻射信號(hào)）用於提供天線虛擬信號(hào)的無(wú)線測(cè)試平臺(tái)（如KeysightUXM係列，圖中未顯示）測(cè)量過(guò)程中將通過(guò)旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺(tái)來(lái)控製並測(cè)量UE天線在不同方向的輻射特性。