HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。所以，對(duì)於電力設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)才可以確保電力係統(tǒng)能夠平穩(wěn)的運(yùn)行。冶金行業(yè)電氣設(shè)備狀態(tài)檢測(cè)技術(shù)的運(yùn)用紅外檢測(cè)技術(shù)表麵溫度判斷法此方法大都針對(duì)那些暴露於設(shè)備以外的觸頭與接頭等。實(shí)施較為的測(cè)量，以獲得溫度的點(diǎn)所在。經(jīng)過(guò)對(duì)電氣設(shè)施的表麵溫度進(jìn)行測(cè)量，經(jīng)過(guò)對(duì)比相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)融合具體的電力設(shè)施的溫度負(fù)荷率與其所能承載機(jī)械應(yīng)力的多少，挖掘電氣設(shè)施的熱缺陷。同相比較判彆法同相比較法所代表的是測(cè)量數(shù)據(jù)與之前所進(jìn)行的測(cè)試及初的數(shù)據(jù)實(shí)施，後獲得測(cè)量結(jié)果的形式。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

MOSI-主設(shè)備數(shù)據(jù)輸出，從設(shè)備數(shù)據(jù)輸入;MISO–主設(shè)備數(shù)據(jù)輸入，從設(shè)備數(shù)據(jù)輸出;SCLK–時(shí)鐘信號(hào)，由主設(shè)備產(chǎn)生;SS–從設(shè)備使能信號(hào)，有主設(shè)備控製;SPI標(biāo)準(zhǔn)通訊接口SPI通訊接口的優(yōu)點(diǎn)是傳輸數(shù)據(jù)快，能達(dá)到幾兆到幾十兆，並且冇有係統(tǒng)開(kāi)銷。SPI總線的缺點(diǎn)也比較明顯，主要是冇有的流控製，也冇有應(yīng)答機(jī)製確認(rèn)是否接收到數(shù)據(jù)。單線SPI接口還有一種另類的SPI通訊接口方式。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)光纖接續(xù)光纖接續(xù)。光纖接續(xù)應(yīng)遵循的原則是：芯數(shù)相等時(shí)，要同束管內(nèi)的對(duì)應(yīng)色光纖對(duì)接，芯數(shù)不同時(shí)，按順序先接芯數(shù)大的，再接芯數(shù)小的。光纖接續(xù)的方法有：熔接、活動(dòng)連接、機(jī)械連接三種。在工程中大都采用熔接法。采用這種熔接方法的接點(diǎn)損耗小，反射損耗大，可靠性高。光纖接續(xù)的過(guò)程和步驟：開(kāi)剝光纜，並將光纜固定到接續(xù)盒內(nèi)。注意不要傷到束管,開(kāi)剝長(zhǎng)度取1m左右，用衛(wèi)生紙將油膏擦拭乾淨(jìng),將光纜穿入接續(xù)盒,固定鋼絲時(shí)一定要壓緊,不能有鬆動(dòng)。