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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:配電箱多回路溫升測試儀HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 定製定做

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。配電箱多回路溫升測試儀HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 定製定做
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) 配電箱多回路溫升測試儀HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 定製定做 

配電箱多回路溫升測試儀HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 定製定做
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)櫃進行試驗的要求。如果示波器冇有足夠大的存儲深度,則再高的采樣率也無法充分發(fā)揮價值。ZDS454Plus標配512Mpts存儲深度,哪怕麵對4GSa/s的采樣率,也能存儲長達128ms的波形。“真正意義”測量如果不能對所有存儲深度的每一個波形都進行測量,存儲深度的價值也就是“波形不失真”這一基本要求而已,卻無法更進一步地去自動挖掘出波形中存在的異常。隻有具備“真正意義”參數(shù)測量統(tǒng)計功能,512Mpts的海量數(shù)據(jù)的價值才能被挖掘,否則如果隻測其中的一個周期,海量的數(shù)據(jù)有何意義?不同於傳統(tǒng)示波器隻測一個周期,或通過抽樣減少數(shù)據(jù)量再測量的模式,ZDS454Plus通過FPGA全硬件並行處理,基於原始采樣率和512Mpts全存儲深度,對每一幀波形每一周期進行測量統(tǒng)計,可在幾百毫秒內(nèi)實現(xiàn)對512Mpts數(shù)據(jù)的“真正意義”參數(shù)測量,測試項目可達51種,並且支持24種參數(shù)同時顯示。

配電箱多回路溫升測試儀HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 定製定做1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求)

輸出波形:標準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù):三相  多路

不過,CCD元件的製造成本高,在高感光度下的表現(xiàn)不太好,而且功耗較大。CMOS的色彩飽和度和質(zhì)感則略差於CCD,但處理芯片可以彌補這些差距。重要的是,CMOS具備硬件降噪機製,在高感光度下的表現(xiàn)要好於CCD,此外,它的讀取速度也更快。這些特性特彆適合性能較高的單反相機,因此目前市場中常見的單反數(shù)碼相機幾乎都采用了CMOS傳感器。這些裝備了CMOS傳感器的數(shù)碼相機甚至具備了拍攝全高清(FullHD)的能力,這是裝備了CCD的數(shù)碼相機目前無法做到的。配電箱多回路溫升測試儀HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 定製定做


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

配電箱多回路溫升測試儀HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 定製定做如何可靠地校準這些校準器,保證可靠地量值溯源性,是一項技術(shù)性很強的工作。目前國內(nèi)各有些校準實驗室在校準這些校準器的工作中,還存在一些問題。有時候,其校準不確定度並不能滿足技術(shù)要求。本文對這些問題做了,並提出了解決方法。存在的問題校準儀器時,有一個基本的要求,就是要求被校儀器的不確定度遠大於校準標準的不確定度。它們之間的比率稱為不確定度比率TUR。一般要求TUR至少大於4:1或者3:1。達到要求,可以開展校準或檢定;達不到要求,隻能進行儀器間的比對測量。配電箱多回路溫升測試儀HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 定製定做


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