HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 直流開關(guān)試驗(yàn)電源 容量大 5年保修 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。另外，晶體管也可能產(chǎn)生相似的爆裂噪聲和閃爍噪聲，其產(chǎn)生機(jī)理與電阻中微粒的不連續(xù)性相近，也與晶體管的摻雜程度有關(guān)。半導(dǎo)體器件產(chǎn)生的散粒噪聲由於半導(dǎo)體PN結(jié)兩端勢(shì)壘區(qū)電壓的變化引起累積在此區(qū)域的電荷數(shù)量改變，從而顯現(xiàn)出電容效應(yīng)。當(dāng)外加正向電壓升高時(shí)，N區(qū)的電子和P區(qū)的空穴向耗儘區(qū)運(yùn)動(dòng)，相當(dāng)於對(duì)電容充電。當(dāng)正向電壓減小時(shí)，它又使電子和空穴遠(yuǎn)離耗儘區(qū)，相當(dāng)於電容放電。當(dāng)外加反向電壓時(shí)，耗儘區(qū)的變化相反。當(dāng)電流流經(jīng)勢(shì)壘區(qū)時(shí)，這種變化會(huì)引起流過勢(shì)壘區(qū)的電生微小波動(dòng)，從而產(chǎn)生電流噪聲。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

且可重複的測(cè)量現(xiàn)有手持式振動(dòng)(參見)在實(shí)現(xiàn)方法上具備一些優(yōu)勢(shì)，包括不需要對(duì)終端設(shè)備做任何修改，而且其集成度相對(duì)較高，尺寸較大，可提供充足的處理能力和存儲(chǔ)空間。然而，它的一個(gè)主要局限是測(cè)量結(jié)果不可重複。位置或角度稍有改變，就會(huì)產(chǎn)生不一致的振動(dòng)剖麵，從而難以進(jìn)行的時(shí)間比較。維護(hù)技術(shù)人員需要弄清所觀察到的振動(dòng)偏移是由機(jī)器內(nèi)部的實(shí)際變化所致，還是僅僅因?yàn)闇y(cè)量技術(shù)的變化所致。理想情況下，傳感器應(yīng)當(dāng)結(jié)構(gòu)緊湊並且充分集成，能夠直接性地嵌入目標(biāo)設(shè)備內(nèi)部，從而消除測(cè)量位置偏移問題，並且可以完全靈活地安排測(cè)量時(shí)間。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 直流開關(guān)試驗(yàn)電源 容量大 5年保修無刷直流電機(jī)（BLDC）應(yīng)用中，常采用霍爾傳感器來檢測(cè)電機(jī)轉(zhuǎn)子的實(shí)際位置，給電子換向提供依據(jù)。然而，由於製造工藝的限製，霍爾傳感器的安裝有可能會(huì)產(chǎn)生物理位置偏差，從而造成電子換向的時(shí)間發(fā)生偏差，影響電機(jī)的轉(zhuǎn)速和平穩(wěn)度。為了能檢測(cè)出這個(gè)製造工藝上的缺陷，在工業(yè)上采用了的電機(jī)檢測(cè)設(shè)備，然而這些設(shè)備結(jié)構(gòu)複雜、體積龐大、價(jià)格昂貴。本文基於虛擬儀器架構(gòu)的設(shè)計(jì)思想，設(shè)計(jì)了一個(gè)低成本的邏輯信號(hào)檢測(cè)儀來檢測(cè)電機(jī)霍爾傳感器信號(hào)。