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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。如果我們用積分法和光度法去測(cè)試同一個(gè)燈,對(duì)比測(cè)試結(jié)果我們會(huì)發(fā)現(xiàn)二者測(cè)試的總光通量數(shù)據(jù)有較大差異。本文重點(diǎn)講述的是LED燈具在積分球和分布式光度計(jì)中流明測(cè)試的差異。積分法測(cè)試總光通量的原理是通過(guò)光通量標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)。由於用標(biāo)準(zhǔn)燈校準(zhǔn),所以不必知道球體的光譜輸出量,被測(cè)LED燈產(chǎn)品的光通量φTEST(λ)是與標(biāo)準(zhǔn)燈比較計(jì)算出來(lái)的。通常來(lái)講積分法適合用於小型集成LED燈具和相對(duì)較小的LED光源測(cè)試總光通量和色度參數(shù),這是總光通量的相對(duì)測(cè)試方法,采用積分法具有測(cè)量速度快和無(wú)需暗室的優(yōu)點(diǎn),通常體積越小,越接近於點(diǎn)光源的燈具測(cè)試結(jié)果越準(zhǔn)確。

JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

ES21雙鉗相位伏安表可以測(cè)量交流電壓、電流、相位、頻率,鉗口尺寸:φ7.5mm,相位量程:.~36°,電流量程:.mA~2.A,電壓量程:.V~6V,的特點(diǎn)就是可以測(cè)量頻率了。下麵介紹如何使用ES21測(cè)量低壓配電櫃的電壓,電流,相位角,跟頻率。測(cè)量的低壓配電櫃現(xiàn)場(chǎng)圖。ES21雙鉗相位伏安表標(biāo)準(zhǔn)配件有:主機(jī)1件,儀表箱1件,電流鉗2件,測(cè)試線4條(紅黑各2條),電池9V堿性電池1個(gè),說(shuō)明書(shū)、合格證1套。JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修工程師甚至可以在診斷一個(gè)間歇故障之後,對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行更改,很快再進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試的結(jié)果可以對(duì)設(shè)計(jì)更改的影響進(jìn)行的驗(yàn)證。借助掃描係統(tǒng),電路板設(shè)計(jì)工程師可以預(yù)先測(cè)試和解決電磁兼容問(wèn)題,從而避免產(chǎn)生非預(yù)期的一致性測(cè)試結(jié)果。掃描儀的診斷功能可以幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將輻射測(cè)試時(shí)間縮短兩個(gè)數(shù)量級(jí)以上。EMI近場(chǎng)輻射特性:SSCG示例某一大型半導(dǎo)體廠商在解串器的並行總線上實(shí)現(xiàn)了SSCG功能。SSCG功能能夠通過(guò)將輻射峰值能量擴(kuò)展到更寬的頻帶上來(lái)減少輻射。JP櫃溫升大電流發(fā)生器HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修


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