HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) JP櫃溫升試驗設(shè)備HNDL 三相溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)櫃進行試驗的要求。既然測量係統(tǒng)的檢測功能與投影比較儀有相似之處，為什麼不能將兩種儀器合而為一呢？為此，Starrett公司在它的臥式投影比較儀上重新設(shè)計了OV2光學/轉(zhuǎn)接器，以增強其易用性。該公司自幾年前次開發(fā)出OV2係統(tǒng)後，現(xiàn)在對於在投影比較儀上使用測量係統(tǒng)的效益抱有更高的預期。為此，公司更換了係統(tǒng)原有的硬件聯(lián)接方式，將圖像輸出與投影比較儀的讀數(shù)器組合到QC300觸摸顯示屏上。該係統(tǒng)可通過切換安裝在HD400投影比較儀滑軌上的兩組透鏡，實現(xiàn)光學測量方式與測量方式的相互轉(zhuǎn)換。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

晶閘管又叫可控矽，是一種在晶體管基礎(chǔ)上發(fā)展起來的大功率半導體器件，主要並廣泛應用於整流、逆變、調(diào)壓及開關(guān)等方麵，對可控矽性能進行檢測，對於電控係統(tǒng)的日常維護、保證正常運轉(zhuǎn)具有十分重要的意義。可控矽分單向可控矽和雙向可控矽兩種，都是三個電極。單向可控矽有陰極（K）、陽極（A）、控製極（G）。雙向可控矽等效於兩隻單項可控矽反向並聯(lián)而成，即其中一隻單向矽陽極與另一隻陰極相邊連，其引出端稱T2極，其中一隻單向矽陰極與另一隻陽極相連，其引出端稱T2極，剩下則為控製極。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）