HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 配電箱溫升大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)係人車(chē)高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿(mǎn)足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。TestCenter開(kāi)發(fā)平臺(tái)為診斷程序的開(kāi)發(fā)提供了支持，包括圖形化的故障建模工具、IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)的診斷推理機(jī)、故障診斷程序開(kāi)發(fā)等。IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)為故障樹(shù)在內(nèi)的幾種故障診斷方法建立了相應(yīng)的診斷信息模型，並了兩種格式來(lái)描述這些信息模型，使之成為可交換文件。標(biāo)準(zhǔn)還定義了符合IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)的診斷推理機(jī)。交換文件由推理機(jī)解析，對(duì)診斷起指導(dǎo)作用。IEEE1232推理機(jī)通過(guò)服務(wù)接口與測(cè)試係統(tǒng)交互。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿(mǎn)足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

敏感單元其內(nèi)部結(jié)構(gòu)見(jiàn)。對(duì)不同的傳感器來(lái)說(shuō)，敏感單元的製造材料有所不同。如，SD2的敏感單元由鋯鈦酸鉛製成；P2288由LiTaO3製成。這些材料再做成很薄的薄片，每一片薄片相對(duì)的兩麵各引出一根電極，在電極兩端則形成一個(gè)等效的小電容，圖中的PP2。因?yàn)檫@兩個(gè)小電容是做在同一矽晶片上的，而它們形成的等效小電容能自身產(chǎn)生極化，極化的結(jié)果是，在電容的兩端產(chǎn)生極性相反的正、負(fù)電荷。但這兩個(gè)電容的極性是相反串聯(lián)的。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶(hù)具體需求配置）

配電箱溫升大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)?zāi)繕?biāo)信號(hào)變得相乾或相關(guān)，但不會(huì)恢複失真項(xiàng)。在測(cè)試中實(shí)現(xiàn)的修改方法是將每個(gè)本振(LO)頻率合成器設(shè)置為不同的頻率，然後在數(shù)字處理過(guò)程中以數(shù)字方式調(diào)諧數(shù)控振蕩器(NCO)，以校正修改。所示為ADI公司ADRV9009的功能框圖。每個(gè)波形發(fā)生器或接收器都是用直接變頻架構(gòu)實(shí)現(xiàn)的。DanielRabinkin的文章《前端非線(xiàn)性失真與陣列波形合成》詳細(xì)地討論了直接變頻架構(gòu)。4LO頻率可以立編程到各IC上。