HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 開關(guān)櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定製定做 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。並且數(shù)據(jù)采集軟件完成在線信號(hào)，生成循環(huán)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)，並在試驗(yàn)結(jié)束後生成測(cè)試報(bào)告。製動(dòng)噪聲測(cè)試係統(tǒng)的組成：每個(gè)車輪位置需要安裝熱電偶、加速度傳感器、壓力傳感器，車內(nèi)放置製動(dòng)觸發(fā)器、踏板力計(jì)、麥克風(fēng)、減速度計(jì)、GPS、數(shù)據(jù)采集及係統(tǒng)。製動(dòng)噪聲測(cè)試係統(tǒng)中的主要組成部分——數(shù)據(jù)采集係統(tǒng)，是采用德維創(chuàng)數(shù)據(jù)采集係統(tǒng)來完成的。德維創(chuàng)數(shù)據(jù)采集係統(tǒng)的特點(diǎn)：1.ns級(jí)彆的通道間同步；2.高精度（0.05%）；3.高隔離（通道與通道間隔離）；4.硬件濾波；5.係統(tǒng)堅(jiān)固、小巧、抗振、防電磁，抗振、抗衝擊指標(biāo)高於美軍標(biāo)MIL-STD-810F標(biāo)準(zhǔn)等等。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

，在測(cè)量電阻時(shí)，四線製測(cè)試法往往比兩線製測(cè)試法結(jié)果更。Fluke5係列的測(cè)試表筆就是采用了四線製測(cè)試的設(shè)計(jì)，但僅憑外觀判斷，不少工程師會(huì)誤以為這是兩線製測(cè)試的表筆，今天小福就帶大家來揭秘Fluke5係列蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀表筆暗藏的~簡(jiǎn)單科普一下兩線製測(cè)試和四線製測(cè)試的區(qū)彆：兩線製測(cè)試原理：如下圖所示，此種連接方式即為典型的兩線製測(cè)試。其中被測(cè)電阻為Rb，兩根導(dǎo)線的饋線電阻分彆為R1和R2，利用已知的I及V12，即可得到結(jié)果，但結(jié)果R=(R1+R2+Rb)，包含了饋線電阻，阻值比實(shí)際偏大。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 開關(guān)櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定製定做摩爾定律美國人高登摩爾提出摩爾定律，即微處理器的速度每18個(gè)月翻一翻。這意味著同等價(jià)位的微處理器速度會(huì)變得越來越快，同等速度的微處理器會(huì)變得越來越便宜。作為迄今為止半導(dǎo)體發(fā)展意義深遠(yuǎn)的摩爾定律，集成電路數(shù)十年的發(fā)展曆程，令人信服地證實(shí)了它的正確性。它並不是嚴(yán)格的物理定律，而是基於一種幾乎不可思議的技術(shù)進(jìn)步現(xiàn)象所做出的總結(jié)。在過去10年中，摩爾定律所描述的技術(shù)進(jìn)步不斷衝擊著計(jì)算機(jī)工業(yè)：晶體管越做越小，芯片性能越來越高，計(jì)算能力呈指數(shù)增長(zhǎng)，生產(chǎn)成本和使用費(fèi)用不斷降低。