HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 配電箱大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。由於現(xiàn)場總線過長，導(dǎo)致總線上掛載電容增加，從而導(dǎo)致線路阻抗增加。在邊沿時間測試需要考慮電阻與電容匹配。模擬測試線路短，需要人為添加電容來模擬現(xiàn)場存在實(shí)際情況。在上表中典型值是根據(jù)現(xiàn)場電容、電阻得出的常用值。CAN邊沿時間測試步驟示波器測試CAN波形用示波器采集CAN總線波形，設(shè)置幅值光標(biāo)為20%~80%，記錄上升沿的時間、下降沿時間;記錄多次數(shù)據(jù)，確認(rèn)每次求得上升沿、下降沿時間都在標(biāo)準(zhǔn)範(fàn)圍內(nèi)。CAN測試問題隻使用示波器測量CAN邊沿時間，需要人為操作記錄多次時間。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

借助現(xiàn)場總線通信(HART、Profibus、FoundationFieldbus)，這些裝置能提供被測儀器的quot;健康狀態(tài)quot;信息，這種狀態(tài)信息可由資產(chǎn)監(jiān)測器加以利用。這些資產(chǎn)監(jiān)測器(如ABB的80OXA擴(kuò)展自動化係統(tǒng))可探測到有關(guān)儀器性能的下降，通知相應(yīng)的人員開展進(jìn)一步調(diào)查，並在適當(dāng)?shù)那闆r下提供補(bǔ)救措施。無論作為簡單的顯示或報警信息執(zhí)行，或是作為完整控製係統(tǒng)的一部分，這些功能都可讓客戶主動對資產(chǎn)使用情況進(jìn)行優(yōu)化，而非被動對突發(fā)事件做出反應(yīng)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)使用組合透鏡係統(tǒng)對物體成像，實(shí)現(xiàn)加電時液晶透鏡區(qū)域清晰，具有大視場、局部高分辨率的效果。本文通過實(shí)驗(yàn)測量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對於成像質(zhì)量的影響。研究方向：液晶透鏡成像係統(tǒng)測試目的：展示成像係統(tǒng)對於局部區(qū)域的清晰成像效果，測量不同位置、不同光圈下成像係統(tǒng)的MTF，其對於成像質(zhì)量的影響。測試設(shè)備:相機(jī)、鏡頭、函數(shù)發(fā)生器、功率放大器ATA-24組合透鏡係統(tǒng)放大器型號:AigtekATA-242實(shí)驗(yàn)過程：1.實(shí)驗(yàn)室製備液晶透鏡，並通過乾涉法獲取波前信息，得到zernike係數(shù)，得到液晶透鏡的性能參數(shù)，以選擇合適的驅(qū)動電壓；組裝成像係統(tǒng)，對不同區(qū)域的物體進(jìn)行成像實(shí)驗(yàn)；使用ISO12233板對成像係統(tǒng)進(jìn)行對焦測試，測試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。