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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:配電箱溫升大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 定製定做

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。配電箱溫升大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 定製定做
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 配電箱溫升大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 定製定做 

配電箱溫升大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 定製定做
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。使用組合透鏡係統(tǒng)對物體成像,實(shí)現(xiàn)加電時液晶透鏡區(qū)域清晰,具有大視場、局部高分辨率的效果。本文通過實(shí)驗(yàn)測量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對於成像質(zhì)量的影響。研究方向:液晶透鏡成像係統(tǒng)測試目的:展示成像係統(tǒng)對於局部區(qū)域的清晰成像效果,測量不同位置、不同光圈下成像係統(tǒng)的MTF,其對於成像質(zhì)量的影響。測試設(shè)備:相機(jī)、鏡頭、函數(shù)發(fā)生器、功率放大器ATA-24組合透鏡係統(tǒng)放大器型號:AigtekATA-242實(shí)驗(yàn)過程:1.實(shí)驗(yàn)室製備液晶透鏡,並通過乾涉法獲取波前信息,得到zernike係數(shù),得到液晶透鏡的性能參數(shù),以選擇合適的驅(qū)動電壓;組裝成像係統(tǒng),對不同區(qū)域的物體進(jìn)行成像實(shí)驗(yàn);使用ISO12233板對成像係統(tǒng)進(jìn)行對焦測試,測試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。

配電箱溫升大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 定製定做1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù):三相  多路

您在使用CAN或RS-485總線進(jìn)行調(diào)試時,是否遇到過偶爾通信出錯?或者接收不到數(shù)據(jù)?一直正常使用的總線,突然出現(xiàn)大範(fàn)圍的錯誤,或者節(jié)點(diǎn)損壞?您還在為這些問題不知所措,摸不著頭腦嗎?使用總線隔離,或許能輕易幫您解決問題。實(shí)際總線應(yīng)用中,您是否遇到過以下問題:1.設(shè)備及人身**——潛在的高壓危險CAN、RS-485總線的使用環(huán)境非常複雜,一些惡劣的使用場合會存在高壓。極容易產(chǎn)生觸電危險,危及人身或設(shè)備**。配電箱溫升大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 定製定做


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

配電箱溫升大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 定製定做然後再使用另一條1m電纜從配線架連接到,所以從一個SMU到DUT的三芯同軸電纜的總長度是:(2x2m)+(2x5m)+(1m)=15m。除了三芯同軸電纜外,開關(guān)矩陣本身也增加了電容,在計算測試係統(tǒng)總電容時可能需要包括進(jìn)去。在測量通過開關(guān)矩陣連接的FET器件的輸出特點(diǎn)時,使用兩個4211-SMU較使用兩個傳統(tǒng)SMU的結(jié)果明顯改善。在這項(xiàng)測試中,其中一個SMU被偏置恒定柵極電壓,另一個SMU掃描漏極電壓,測量得到的漏極電流。配電箱溫升大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 定製定做


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