HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) 配電箱多回路溫升試驗係統(tǒng)HNDL 箱變溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)櫃進行試驗的要求。由於雙電層電容的充放電純屬於物理過程，其循環(huán)次數(shù)高，充電過程快，因此比較適合在電動車中應用。雙電層超級電容是靠極化電解液來儲存電能的一種新型儲能裝置，其原理結(jié)構(gòu)如圖l所示。當向電極充電時，處於理想化電極狀態(tài)的電極表麵電荷將吸引周圍電解質(zhì)溶液中的離子，使這些離子附於電極表麵形成雙電荷層，構(gòu)成雙電層電容。由於超級電容與傳統(tǒng)電容相比，儲存電荷的麵積大得多，電荷被隔離的距離小得多，因此一個超級電容單元的電容量就高達幾法至數(shù)萬法。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

由Eq.1可以看出，試件表麵的溫度響應與試件厚度L有關(guān)。當脈衝線熱源激勵在薄板上時，由於盲孔缺陷處的L值減小，盲孔缺陷處表麵溫度的幅值會增大，且根據(jù)matlab模擬得出結(jié)論，溫度的衰減也會慢於正常區(qū)域。進行Abaqus模擬後，得出結(jié)論：當線熱源掃描至缺陷位置時，在缺陷處溫度突然升高，高於無缺陷處的位置；當線熱源掃描過缺陷後，在缺陷處的熱圖像上發(fā)生明顯高溫處的溫度拖拽現(xiàn)象。針對在粗掃檢測階段發(fā)現(xiàn)的排除噪音後溫度疑似缺陷的微區(qū)域，在細掃描階段的檢測原理中，在該微區(qū)域內(nèi)進行提高功率的快速細掃描，將快速掃描的線激光近似看作為麵激光脈衝加熱。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）