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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP櫃溫升試驗係統(tǒng)HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定製定做

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗及溫升試驗。JP櫃溫升試驗係統(tǒng)HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定製定做
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) JP櫃溫升試驗係統(tǒng)HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定製定做 

JP櫃溫升試驗係統(tǒng)HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定製定做
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)櫃進(jìn)行試驗的要求。冷卻壁的冷卻原理是通過冷卻壁形成一個密閉的圍繞高爐爐殼內(nèi)部的冷卻結(jié)構(gòu)、實現(xiàn)對耐火材料的冷卻和對爐殼的直接冷卻。從而起到延長耐火材料使用壽命和保護(hù)爐殼的作用。在送風(fēng)支管中間的黑**域即為冷卻壁目前有哪些手段檢測送風(fēng)支管?目前在煉鐵廠通常使用紅外測溫儀、熱電偶來進(jìn)行冷卻壁的檢測。上述手段檢測冷卻壁存在哪些問題?因1塊冷卻壁的麵積有大約2平方米,使用紅外測溫儀和熱電偶無法在短時間內(nèi)(一般高爐定檢時間為8-12小時)將高爐安裝的數(shù)百塊冷卻壁有效檢測,這就導(dǎo)致了漏檢隱患。

JP櫃溫升試驗係統(tǒng)HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定製定做1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù):三相  多路

一般電機(jī)的“五軸圖”就是指這電機(jī)特性曲線圖,工程師可以通過電機(jī)轉(zhuǎn)速與轉(zhuǎn)矩、電流、功率、效率、轉(zhuǎn)差率之間的這五根函數(shù)曲線,電機(jī)的性能。電機(jī)特性曲線“三維”的電機(jī)特性分布圖過去的電機(jī)大部分是異步電機(jī)或直流電機(jī),其性能差異主要取決於負(fù)載的大小,即負(fù)載扭矩的大小。但隨著技術(shù)發(fā)展,像現(xiàn)在非常常用的變頻電機(jī)、無刷電機(jī)等,其運行工況不但取決於負(fù)載扭矩的大小,還取決於其自身控製的轉(zhuǎn)速。故對於支持主動控製的電機(jī),像電動汽車電機(jī)、伺服電機(jī)、變頻風(fēng)機(jī)等,在其性能時,要同時考慮負(fù)載和轉(zhuǎn)速控製的情況,往往需要繪製三維的坐標(biāo)分布圖。JP櫃溫升試驗係統(tǒng)HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定製定做


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP櫃溫升試驗係統(tǒng)HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定製定做同步檢測是一項實用的技術(shù),它可通過許多儀器儀表應(yīng)用提取低於噪底的嵌入低電平信號。:測量非常小的電阻,測量在強(qiáng)背景光下光的吸收或反射,或者甚至在高噪聲電平的情況下進(jìn)行應(yīng)變測量。當(dāng)頻率接近直流時,許多電氣和物理係統(tǒng)都會有更高的噪聲。,運算放大器有1/f的噪聲,並且露天光學(xué)測量係統(tǒng)會受日光、白熾燈、熒光燈和其他光源造成的環(huán)境光照條件變化產(chǎn)生的噪聲影響。如果可以使測量遠(yuǎn)離這些低頻噪聲源,則可以獲得更高的信噪比並檢測出弱得多的信號。JP櫃溫升試驗係統(tǒng)HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定製定做


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