HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 定製定做 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。其次，幾乎所有的電子類產(chǎn)品都不得不通過(guò)電磁兼容測(cè)試認(rèn)證，這是和組織的技術(shù)壁壘，產(chǎn)品要想進(jìn)入這些市場(chǎng)必須有強(qiáng)製性認(rèn)證，這方麵世界各個(gè)地區(qū)都有各自的標(biāo)準(zhǔn)。電磁兼容認(rèn)證的步驟苛刻龐雜，正式的產(chǎn)品認(rèn)證需要大量測(cè)試設(shè)備和測(cè)試過(guò)程，費(fèi)金耗時(shí)。在產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計(jì)的各個(gè)階段中都應(yīng)儘早發(fā)現(xiàn)和解決各個(gè)級(jí)彆的電磁兼容的問(wèn)題，提升產(chǎn)品的過(guò)程質(zhì)量，避免後的產(chǎn)品認(rèn)證測(cè)試不通過(guò)，導(dǎo)致同樣費(fèi)金耗時(shí)的返工整改。（多說(shuō)一句，電磁設(shè)備對(duì)人的影響屬於電磁兼容的範(fàn)疇嗎？概念上講並不是，而且電磁對(duì)人的生理影響尚未有科學(xué)依據(jù)，所以還冇有劃歸到電磁兼容領(lǐng)域。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

在電子技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域，經(jīng)常要對(duì)開關(guān)電源、線性電源、UPS電源、變壓器、整流器、電池、充電器等電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，傳統(tǒng)的測(cè)試方法中一般都采用電阻、滑動(dòng)變阻器、電阻箱等充當(dāng)測(cè)試負(fù)載，但這些負(fù)載不能滿足我們對(duì)負(fù)載多樣性的需求，如：恒定電流的負(fù)載，隨意調(diào)節(jié)阻值的負(fù)載，恒定功率的負(fù)載，動(dòng)態(tài)負(fù)載等，可編程電子負(fù)載才被設(shè)計(jì)開發(fā)出來(lái)。根據(jù)負(fù)載所接電流類彆，電子負(fù)載可以分為兩大類：直流電子負(fù)載和交流電子負(fù)載。本文主要討論直流電子負(fù)載。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 定製定做如果用戶需要的話，可以支持Linux版本。由以下幾部分組成：LDF-Editor用於檢查、創(chuàng)建和編輯LDF文件（LIN描述文件）SessionConfigurator用於檢查、創(chuàng)建和編輯SDF文件，前提是需要導(dǎo)入LDF和DBC文件；它可以定義所有需要仿真和控製的總線信息，比如，總線上的哪些節(jié)點(diǎn)是可用的，哪些節(jié)點(diǎn)應(yīng)該由Baby-LIN-RM-II仿真。也可以定義一些應(yīng)用邏輯，如循環(huán)運(yùn)行；邏輯判斷SimpleMenu用於連接Baby-LIN-II,加載SDF文件，修改設(shè)備目標(biāo)配置，控製總線，監(jiān)控LIN總線報(bào)文和信號(hào)。