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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。顯示屏已經(jīng)成為人們生活中不可或缺的信息溝通工具:可穿戴顯示、、平板、家電以及等,充斥著生活的各個(gè)角落。不僅如此,人們注視顯示屏的時(shí)間也在不斷攀升,長達(dá)日均8h。在關(guān)注顯示品質(zhì)的同時(shí),人們對顯示產(chǎn)品的光輻射**和健康影響也越來越重視,特彆是由於長時(shí)間注視高亮屏可能帶來的視網(wǎng)膜藍(lán)光危害,以及對人的生物節(jié)律造成影響的非視覺生物效應(yīng),與此相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)正在熱議中。本文將結(jié)合LCLED以及OLED等不同顯示產(chǎn)品的特點(diǎn),闡述藍(lán)光對**和健康的影響,深入其評價(jià)方法和檢測技術(shù),為業(yè)內(nèi)提供參考意見。

三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

燈具分布光度計(jì)是一種大型的精密光學(xué)測試設(shè)備,是燈具分布光度測量中必備的重要設(shè)備。傳統(tǒng)的分布光度計(jì)主要為機(jī)械式結(jié)構(gòu),通過機(jī)械控製旋轉(zhuǎn)測量整個(gè)三維空問的燈具光強(qiáng)分布。目前在發(fā)展中的這類傳統(tǒng)分布光度計(jì)主要有旋轉(zhuǎn)反光鏡式分布光度計(jì)。運(yùn)動反光鏡式分布光度計(jì)和旋轉(zhuǎn)燈具式分布光度計(jì)等幾種結(jié)構(gòu)形式℃IEl27一1997對LED的光學(xué)和電學(xué)測試進(jìn)行了要求,也是采用傳統(tǒng)光度測量方法進(jìn)行LED測試的依據(jù)。近年來,隨著CCD成像技術(shù)的發(fā)展與成熟,同時(shí)由於其可視化效果好,簡易方便,人們開始逐漸尋求采用成像技術(shù)來進(jìn)行光度測量,目前已有可用於基於成像技術(shù)的亮度計(jì),輔助傳統(tǒng)類型的亮度計(jì)。三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修測試項(xiàng)目:RFID測試主要是對讀寫器和標(biāo)簽之間通信的無線電訊號進(jìn)行測量,以此評估RFID讀寫器的工作狀態(tài)和性能指標(biāo)。本次測試對象是低頻RFID讀寫模塊,射頻信號頻率125KHz,支持識彆EM4001/4002及兼容的ID卡。當(dāng)識彆到ID片時(shí),模塊TXD管腳會輸出卡號信息,信號類型為TTL-RS232信號。測量目標(biāo):射頻信號的載波頻率,輸出功率,占用帶寬,信道功率等選用儀器:選用鼎陽科技SSA3000X頻譜儀,SPD3303X-E線性直流電源和SDS1204X-E超級熒光示波器,分彆用於測量、供電和信號。三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修


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