HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) JP櫃溫升試驗裝置HNDL 交流溫升試驗設備 容量大 30年經驗 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。使用儀器設備進行測試時，工程師們通常會發(fā)現(xiàn)這樣一個問題：同一個信號用不同的設備測試，得出的結果卻有所不同。到底哪一個結果才是準確的？這時選擇合適的設備進行測試，可以避免被錯誤的結果“迷惑”。不同的測試設備都有典型的應用場合和測量範圍，之所以會出現(xiàn)測量結果不一致的情況，往往和測試設備本身的參數(shù)特性有關係，其中很關鍵的一個指標就是儀器的帶寬。帶寬不同的儀器，哪怕測試相同的信號，測試結果往往也都不同。

1.2 技術參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續(xù)可調， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關櫃及相關標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

因此我們常常把樣品放在高電壓、大電流、高濕度、高溫、較大氣壓等條件下進行測試，然後根據(jù)樣品的失效機理和模型來推算產品在正常條件下的壽命?？煽啃允菍Ξa品耐久力的測量，我們主要典型的IC產品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。冷熱衝擊試驗用來測試材料結構或複合材料，在瞬間下經高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，適用電工、電子產品、半導體、電子線路板、金屬材料等材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應性。在研製階段可用於發(fā)現(xiàn)產品設計和工藝缺陷，在有些情況下也可用於環(huán)境應力篩選，剔除產品的早期故障。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）