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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路JP櫃溫升試驗設備HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統(tǒng)技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。三回路JP櫃溫升試驗設備HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) 三回路JP櫃溫升試驗設備HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗 

三回路JP櫃溫升試驗設備HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。電池狀態(tài)估計電池狀態(tài)估計之間的關係如所示。電池溫度估計是其他狀態(tài)估計的基礎。電池管理係統(tǒng)算法框架,電池溫度估計及管理溫度對電池性能影響較大,目前一般隻能測得電池表麵溫度,而電池內部溫度需要使用熱模型進行估計。根據(jù)估計結構對電池進行熱管理。電池內部溫度估計流程,荷電狀態(tài)(SOC)估計SOC算法主要分為單一SOC算法和多種單一SOC算法的融合算法。單一SOC算法包括安時積分法、開路電壓法、基於電池模型估計的開路電壓法、其他基於電池性能的SOC估計法等。

三回路JP櫃溫升試驗設備HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗1.2 技術參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續(xù)可調, 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關櫃及相關標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求)

輸出波形:標準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調

工作時間:大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù):三相  多路

提供的參考設計涵蓋構建用於測量溫度或皮電反應的生物傳感器貼片所需的一切,包括使用NFC傳感器的Android應用、以及一個用於配置和展示貼片的PCGUI。集成智能無源傳感器ONSemiconductor采取了一種不同的方法,開發(fā)出全集成式智能無源傳感器,用於監(jiān)測溫度、濕度或壓力。支持這些傳感器的生態(tài)係統(tǒng)包括多合一開發(fā)套件和具有自身內置GUI和IoT連接的便攜式電池供電讀取器。該讀取器可從傳感器標簽采集數(shù)據(jù)。三回路JP櫃溫升試驗設備HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調節(jié)器

1

三回路JP櫃溫升試驗設備HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗可靠性是對產(chǎn)品耐久力的測量,我們主要典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。集成電路的失效原因大致分為三個階段:階段被稱為早期失效期,這個階段產(chǎn)品的失效率快速下降,造成失效的原因在於IC設計和生產(chǎn)過程中的缺陷;階段被稱為偶然失效期,這個階段產(chǎn)品的失效率保持穩(wěn)定,失效的原因往往是隨機的,比如溫度變化等等;階段被稱為損耗失效期,這個階段產(chǎn)品的失效率會快速升高,失效的原因就是產(chǎn)品的長期使用所造成的老化等。三回路JP櫃溫升試驗設備HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗


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