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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP櫃多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。JP櫃多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) JP櫃多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

JP櫃多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。串口同時(shí)也是儀器儀表設(shè)備通用的通信協(xié)議;很多GPIB兼容的設(shè)備也帶有RS-232口。同時(shí),串口通信協(xié)議也可以用於獲取遠(yuǎn)程采集設(shè)備的數(shù)據(jù)。串口通信的概念非常簡單,串口按位(bit)發(fā)送和接收字節(jié)。儘管比按字節(jié)(byte)的並行通信慢,但是串口可以在使用一根線發(fā)送數(shù)據(jù)的同時(shí)用另一根線接收數(shù)據(jù)。它很簡單並且能夠?qū)崿F(xiàn)遠(yuǎn)距離通信。比如IEEE488定義並行通行狀態(tài)時(shí),規(guī)定設(shè)備線總常不得超過20米,並且任意兩個(gè)設(shè)備間的長度不得超過2米;而對(duì)於串口而言,長度可達(dá)1200米。

JP櫃多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

現(xiàn)代射頻儀有遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過其前代產(chǎn)品的令人印象深刻的測(cè)量能力和精度。然而,如果不能提供高品質(zhì)的信號(hào),這些儀器就不能充分發(fā)揮其潛能。完備的測(cè)量方法和注意事項(xiàng)可以保證您能夠充分獲取在射頻儀器上投資的收益。獲得可靠的射頻測(cè)量射頻測(cè)量通常在理論上很簡單,但付諸實(shí)施的時(shí)候卻困難重重。您能夠很容易地從當(dāng)代射頻儀器所提供的廣泛測(cè)量手段中獲得核心的射頻測(cè)量結(jié)果,功率,頻率和噪聲。獲得結(jié)果與獲得正確結(jié)果則有著天壤之彆。JP櫃多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP櫃多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)電源選型任何對(duì)元器件、電路板、模塊或設(shè)備進(jìn)行測(cè)試時(shí)都需要使用一個(gè)或多個(gè)直流電源來給被測(cè)物和測(cè)試激勵(lì)源供電;除了給被測(cè)物供電外,這些電源有時(shí)也可通過模擬被測(cè)物工作環(huán)境來提供測(cè)試激勵(lì)。比如,多範(fàn)圍的充電機(jī),可以充電12VDC或者24VDC電池組,充電電壓會(huì)達(dá)到28.8VDC左右;針對(duì)電子產(chǎn)品,常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目都會(huì)包含對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行OVP測(cè)試,OVP測(cè)試所采用的電壓通常都會(huì)比額定工作電壓高1%甚至2%;針對(duì)采用額定12VDC電壓的汽車電路,但輸入電壓仍可能高達(dá)27VDC,某些汽車標(biāo)準(zhǔn)要求用27VDC的電壓對(duì)正常工作電壓為12VDC的裝置進(jìn)行極限測(cè)試。JP櫃多回路溫升測(cè)試儀HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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