HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) JP櫃溫升試驗係統(tǒng)HNDL 箱變溫升試驗設備 容量大 5年保修 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。HIL測試一大部分是真實模擬切換和故障注入。真實模擬切換意味著每個I/O點必須能夠在模擬的模型驅動信號和真實的組件（執(zhí)行器、傳感器、控製器等）之間進行物理切換。故障注入開關需要注入故障（開路、斷路、引腳短路、反極性、短接地、與軌道短路、相鄰信號短路）來確保被測設備反應適當。這些需求意味著需要大量的開關，每一個簡單的2線模擬信號可能需要6-12個繼電器，以確保能夠排除故障和真實模擬連接的所有交換。

1.2 技術參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關櫃及相關標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

很多測試項目(乘用車路試)很難重複進行，因此對數(shù)據(jù)保存的可靠性提出了更高的要求。橫河的SMARTDAC+係列采集器，采用本地存儲設計，儀器內(nèi)置非易失性大內(nèi)存，按照時間間隔(保存周期)分割保存到內(nèi)存的數(shù)據(jù)文件，會同時自動保存至外部SD存儲卡從而實現(xiàn)數(shù)據(jù)的雙重備份。將數(shù)據(jù)保存至SD存儲卡時，如果SD卡的可用空間不足，儀器會按照數(shù)據(jù)的更新時間刪除早的文件，然後保存新文件。該功能稱為FIFO(先進先出)，可以被手動關閉。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）