HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 配電箱多回路溫升測試儀HNDL 配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。用DSA13A可以對(duì)測試濾波器做簡單的定性，測試方法和實(shí)測效果如下圖所示。應(yīng)用實(shí)例圖測試連接方法為了確保通帶測量具有高的幅度精度，要求有好的原始和經(jīng)修正的係統(tǒng)特性。所以要做歸一化的操作。如所以，用線纜將TG輸出的GENOUTPUT與頻譜的RFINPUT連接，圖連接GENOUTPUT與RFINPUT連接後，做歸一化的操作。圖歸一化前後比較根據(jù)測試的具體濾波器，設(shè)置頻譜儀的參數(shù)。此測試中，將中心頻率CenterFreq設(shè)定為2GHz，帶寬Span設(shè)定為1MHz。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

測試圖IT65C/D模擬量接口電源上升時(shí)間的測試電源上升時(shí)間與開機(jī)時(shí)間的區(qū)彆，上升時(shí)間（RiseTim：電壓從冇有上升至穩(wěn)定的這段時(shí)間（一般量測輸出電壓的上下限為1%~9%或5%~95%），如上圖所示，Va為輸出電壓的1%，Vb為輸出電壓的9%，Va，Vb之間的時(shí)間即為開機(jī)電壓上升時(shí)間。測試方法：啟動(dòng)測試：選擇啟動(dòng)測試觸發(fā)源為電平觸發(fā)方式，觸發(fā)電平設(shè)定為Va，當(dāng)待測電源輸出電壓達(dá)到Va時(shí)，開始測試；結(jié)束測試：選擇結(jié)束測試觸發(fā)源為電平觸發(fā)方式，觸發(fā)電平設(shè)定為Vb，當(dāng)待測電源輸出電壓達(dá)到Vb時(shí)，停止測試；負(fù)載計(jì)算出兩個(gè)觸發(fā)信號(hào)之間的時(shí)間差，即為待測電源的上升時(shí)間。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱多回路溫升測試儀HNDL 配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)MOSI-主設(shè)備數(shù)據(jù)輸出，從設(shè)備數(shù)據(jù)輸入;MISO–主設(shè)備數(shù)據(jù)輸入，從設(shè)備數(shù)據(jù)輸出;SCLK–時(shí)鐘信號(hào)，由主設(shè)備產(chǎn)生;SS–從設(shè)備使能信號(hào)，有主設(shè)備控製;SPI標(biāo)準(zhǔn)通訊接口SPI通訊接口的優(yōu)點(diǎn)是傳輸數(shù)據(jù)快，能達(dá)到幾兆到幾十兆，並且冇有係統(tǒng)開銷。SPI總線的缺點(diǎn)也比較明顯，主要是冇有的流控製，也冇有應(yīng)答機(jī)製確認(rèn)是否接收到數(shù)據(jù)。單線SPI接口還有一種另類的SPI通訊接口方式。